[发明专利]引线框架及其制作方法有效

专利信息
申请号: 202110310254.3 申请日: 2021-03-23
公开(公告)号: CN113113319B 公开(公告)日: 2023-02-10
发明(设计)人: 谢重教;张礼冠;揭海欢 申请(专利权)人: 江西新菲新材料有限公司
主分类号: H01L21/48 分类号: H01L21/48;H01L23/498
代理公司: 广州德科知识产权代理有限公司 44381 代理人: 林玉旋;万振雄
地址: 330029 江西省南昌市赣江新区直管*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 引线 框架 及其 制作方法
【说明书】:

一种引线框架及其制作方法,制作方法包括:在承载膜上形成第一牺牲层,图案化第一牺牲层,以形成引脚凹槽;向引脚凹槽填充导电材料,以形成引脚;去除所述第一牺牲层并在所述第一牺牲层原先的位置形成绝缘层;在绝缘层上形成底座,底座与引脚间隔设置,底座用于承载芯片,引脚通过引线与芯片电连接。通过在承载膜上做加法工艺,由于无需蚀刻、无需加强筋的连接以及无需冲切,能够有效避免蚀刻和冲切导致的缺陷,以及具有更高的集成程度和排版利用率,可以制作数量更多的多排引脚以及适用于更薄的设计以及多脚位IC封装。

技术领域

发明属于半导体技术领域,尤其涉及一种引线框架及其制作方法。

背景技术

引线框架(Lead frame)作为集成电路的芯片载体,是一种借助键合材料(金丝、铝丝、铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接,形成电气回路的关键结构件,它起到了和外部导线连接的桥梁作用,绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架,是电子信息产业中重要的基础材料。

引线框架的传统制造工艺采用减法的半蚀刻技术:取铜卷材,在铜卷材进行双面压膜,依次进行曝光、显影和蚀刻,经过蚀刻或者半蚀刻制作出引线框架图形,再通过冲切形成一个个引线框架。

传统方案具有以下弊端:

1、制程流程复杂,且材料浪费较为严重;

2、蚀刻出来的是四周单排引脚,I/O通道少,而且面积大,集成程度低;

3、通过蚀刻把铜材黏连处断裂,因蚀刻制程不稳定,不容易蚀刻断,线路不平整;

4、通过冲切分离引线框架,容易产生毛刺、披锋及损伤,可靠性较差;

5、半蚀刻工艺不适应用于超薄设计、多脚位IC封装;

6、需要有加强筋的连接,排版利用率低。

发明内容

本发明的目的是提供一种引线框架及其制作方法,能够克服传统方案的上述弊端的至少其中之一。

为实现本发明的目的,本发明提供了如下的技术方案:

第一方面,本发明提供了一种引线框架的制作方法,制作方法包括:在承载膜上形成第一牺牲层,图案化所述第一牺牲层,以形成引脚凹槽;向所述引脚凹槽填充导电材料,以形成引脚;去除所述第一牺牲层并在所述第一牺牲层原先的位置形成绝缘层;在所述绝缘层上形成底座,所述底座与所述引脚间隔设置,所述底座用于承载芯片,所述引脚通过引线与所述芯片电连接。

通过在承载膜上做加法工艺,由于无需蚀刻,制程较为简单,以及能够节约材料,且引脚的形成不受空间限制,能够制作出数量更多的多排引脚、更多I/O通道、更细的线路以及更小的芯片体积,具有更高的集成程度,能够适用于更薄的设计以及多脚位IC封装。同时,无需蚀刻还可避免产生穿刻、不平整、尺寸偏差等问题,线路更加平整。另外,由于无需加强筋的连接,排版利用率更高,由于无需冲切,可避免毛刺、披锋及损伤,可靠性较高。

一种实施方式中,所述在承载膜上形成第一牺牲层,包括:在所述承载膜上形成过渡层,图案化所述过渡层,以形成第一凹槽;在所述过渡层上形成所述第一牺牲层,在所述第一牺牲层上形成与所述第一凹槽对应的所述引脚凹槽。通过在形成第一牺牲层之前形成过渡层,以便于在第一牺牲层被绝缘层替换后,通过过渡层将承载膜剥离,同时也有利于线路的制作。

一种实施方式中,所述在所述绝缘层上形成底座之后,包括:剥离所述承载膜和所述过渡层,以使所述引脚突出于所述绝缘层背向所述底座的表面。通过剥离承载膜和过渡层,使得引脚突出于绝缘层的表面,有利于芯片通过引脚与外部导线电连接以形成电气回路。同时,剥离承载膜和过渡层即可形成多个引线框架,从而无需传统工艺中的冲切,能够有效避免毛刺、披锋及损伤,有利于提高可靠性。另外,承载膜能够重复利用,有利于降低制作成本。

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