[发明专利]引线框架及其制作方法有效
申请号: | 202110310254.3 | 申请日: | 2021-03-23 |
公开(公告)号: | CN113113319B | 公开(公告)日: | 2023-02-10 |
发明(设计)人: | 谢重教;张礼冠;揭海欢 | 申请(专利权)人: | 江西新菲新材料有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L23/498 |
代理公司: | 广州德科知识产权代理有限公司 44381 | 代理人: | 林玉旋;万振雄 |
地址: | 330029 江西省南昌市赣江新区直管*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 引线 框架 及其 制作方法 | ||
一种引线框架及其制作方法,制作方法包括:在承载膜上形成第一牺牲层,图案化第一牺牲层,以形成引脚凹槽;向引脚凹槽填充导电材料,以形成引脚;去除所述第一牺牲层并在所述第一牺牲层原先的位置形成绝缘层;在绝缘层上形成底座,底座与引脚间隔设置,底座用于承载芯片,引脚通过引线与芯片电连接。通过在承载膜上做加法工艺,由于无需蚀刻、无需加强筋的连接以及无需冲切,能够有效避免蚀刻和冲切导致的缺陷,以及具有更高的集成程度和排版利用率,可以制作数量更多的多排引脚以及适用于更薄的设计以及多脚位IC封装。
技术领域
本发明属于半导体技术领域,尤其涉及一种引线框架及其制作方法。
背景技术
引线框架(Lead frame)作为集成电路的芯片载体,是一种借助键合材料(金丝、铝丝、铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接,形成电气回路的关键结构件,它起到了和外部导线连接的桥梁作用,绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架,是电子信息产业中重要的基础材料。
引线框架的传统制造工艺采用减法的半蚀刻技术:取铜卷材,在铜卷材进行双面压膜,依次进行曝光、显影和蚀刻,经过蚀刻或者半蚀刻制作出引线框架图形,再通过冲切形成一个个引线框架。
传统方案具有以下弊端:
1、制程流程复杂,且材料浪费较为严重;
2、蚀刻出来的是四周单排引脚,I/O通道少,而且面积大,集成程度低;
3、通过蚀刻把铜材黏连处断裂,因蚀刻制程不稳定,不容易蚀刻断,线路不平整;
4、通过冲切分离引线框架,容易产生毛刺、披锋及损伤,可靠性较差;
5、半蚀刻工艺不适应用于超薄设计、多脚位IC封装;
6、需要有加强筋的连接,排版利用率低。
发明内容
本发明的目的是提供一种引线框架及其制作方法,能够克服传统方案的上述弊端的至少其中之一。
为实现本发明的目的,本发明提供了如下的技术方案:
第一方面,本发明提供了一种引线框架的制作方法,制作方法包括:在承载膜上形成第一牺牲层,图案化所述第一牺牲层,以形成引脚凹槽;向所述引脚凹槽填充导电材料,以形成引脚;去除所述第一牺牲层并在所述第一牺牲层原先的位置形成绝缘层;在所述绝缘层上形成底座,所述底座与所述引脚间隔设置,所述底座用于承载芯片,所述引脚通过引线与所述芯片电连接。
通过在承载膜上做加法工艺,由于无需蚀刻,制程较为简单,以及能够节约材料,且引脚的形成不受空间限制,能够制作出数量更多的多排引脚、更多I/O通道、更细的线路以及更小的芯片体积,具有更高的集成程度,能够适用于更薄的设计以及多脚位IC封装。同时,无需蚀刻还可避免产生穿刻、不平整、尺寸偏差等问题,线路更加平整。另外,由于无需加强筋的连接,排版利用率更高,由于无需冲切,可避免毛刺、披锋及损伤,可靠性较高。
一种实施方式中,所述在承载膜上形成第一牺牲层,包括:在所述承载膜上形成过渡层,图案化所述过渡层,以形成第一凹槽;在所述过渡层上形成所述第一牺牲层,在所述第一牺牲层上形成与所述第一凹槽对应的所述引脚凹槽。通过在形成第一牺牲层之前形成过渡层,以便于在第一牺牲层被绝缘层替换后,通过过渡层将承载膜剥离,同时也有利于线路的制作。
一种实施方式中,所述在所述绝缘层上形成底座之后,包括:剥离所述承载膜和所述过渡层,以使所述引脚突出于所述绝缘层背向所述底座的表面。通过剥离承载膜和过渡层,使得引脚突出于绝缘层的表面,有利于芯片通过引脚与外部导线电连接以形成电气回路。同时,剥离承载膜和过渡层即可形成多个引线框架,从而无需传统工艺中的冲切,能够有效避免毛刺、披锋及损伤,有利于提高可靠性。另外,承载膜能够重复利用,有利于降低制作成本。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造