[发明专利]一种创建实测坐标系的方法及装置有效

专利信息
申请号: 202110315937.8 申请日: 2021-03-24
公开(公告)号: CN113074686B 公开(公告)日: 2023-03-31
发明(设计)人: 王金再 申请(专利权)人: 西安米索软件有限公司
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710000 陕西省西安市高新区*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 创建 实测 坐标系 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种创建实测坐标系的方法,其特征在于,包括:

获取待测模型的理论数据;

获取待测模型的实体的测量数据,所述测量数据与所述理论数据存在映射关系;

根据所述理论数据建立理论坐标系;根据所述测量数据建立测量坐标系,所述测量坐标系和所述理论坐标系的建立方式具有相似性;

根据所述测量坐标系和所述理论坐标系分析出实测坐标系;所述获取待测模型的理论数据,包括:

所述待测模型的理论数据建立在理论模型自带的第一原始坐标系中,所述理论数据包括理论面几何信息、理论线几何信息和理论点几何信息中的任一者或多者;

获取待测模型的理论面几何信息,所述理论面几何信息包括第一理论点的坐标和第一理论面的法向矢量,所述第一理论点位于所述第一理论面上;

获取待测模型的理论线几何信息,所述理论线几何信息包括第二理论点的坐标和第二理论线的矢量,所述第二理论线的矢量垂直于所述第一理论面的法向矢量,所述第二理论点位于所述第二理论线上;

获取待测模型的理论点几何信息,所述理论点几何信息包括第三理论点的坐标,所述第三理论点所在的第三理论面的法向矢量与所述第二理论线的矢量平行;所述获取待测模型的实体的测量数据,所述测量数据与所述理论数据存在映射关系,包括:

所述待测模型的测量数据建立在三维测量设备自带的第二原始坐标系中;

探测所述实体上的第一实体面上的至少三个实体点的坐标,所述第一实体面与所述第一理论面存在映射关系;

探测所述实体上的第二实体线上的至少两个实体点的坐标,所述第二实体线与所述第二理论线存在映射关系;

探测所述实体上的第三实体面上的至少一个实体点的坐标,所述第三实体面与所述第三理论面存在映射关系;

在所述待测模型的理论模型上进行至少一个标记,所述标记包括标号和三维坐标;

根据所述标记在所述待测模型的实体上进行相应的打点,所述打点的标号与所述标记的标号一一对应;

通过三坐标测量机对所述打点进行三维坐标的探测;所述根据所述理论数据建立理论坐标系,包括:

根据所述第一理论面的法向矢量,确定第一理论坐标轴的正方向,所述第一理论点在所述第一理论坐标轴轴向上的数值置为0;

根据所述第二理论线的矢量,确定第二理论坐标轴的正方向,所述第二理论点在第三理论坐标轴轴向上的数值置为0;

根据坐标系中三个坐标轴相互垂直的关系,确定出第三理论坐标轴的正方向,所述第三理论点在所述第二理论坐标轴轴向上的数值置为0;

在第一理论坐标轴上、第二理论坐标轴上和第三理论坐标轴上都为0的点为理论坐标系的原点,根据理论坐标系的原点、第一理论坐标轴的正方向、第二理论坐标轴的正方向和第三理论坐标轴的正方向确定所述理论坐标系;所述根据所述测量数据建立测量坐标系,包括:根据探测到的实体上的第一实体面上的至少三个实体点的坐标,计算出第一测量面的法向矢量,选取所述第一测量面中的任一测量点,所述任一测量点位于所述第一测量面上;根据所述第一测量面的法向矢量,确定第一测量坐标轴的正方向,所述第一测量面中的任一点在所述第一测量坐标轴轴向上的数值置为0;

根据探测到的所述实体上的第二实体线上的至少两个实体点的坐标,计算出第二测量线的矢量,选取所述第二测量线中的任一测量点,所述任一测量点位于所述第二测量线上;根据所述第二测量线的矢量,确定第二测量坐标轴的正方向,所述第二测量线中的任一点在第三测量坐标轴轴向上的数值置为0;

根据坐标系中三个坐标轴相互垂直的关系,确定出第三测量坐标轴的正方向,第三测量面的法向矢量与所述第二测量线的矢量平行,所述第三测量面中的任一测量点在所述第二测量坐标轴轴向上的数值置为0,所述任一测量点位于所述第三测量面上;

在第一测量坐标轴上、第二测量坐标轴上和第三测量坐标轴上都为0的点为测量坐标系的原点,根据测量坐标系的原点、第一测量坐标轴的正方向、第二测量坐标轴的正方向和第三测量坐标轴的正方向确定所述测量坐标系;所述根据所述测量坐标系和所述理论坐标系分析出实测坐标系,包括:

计算所述测量坐标系的矩阵与所述理论坐标系的矩阵的倒置的乘积,得到实测坐标系的矩阵;根据所述实测坐标系的矩阵分析出所述实测坐标系。

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