[发明专利]蚀刻工艺中的补酸量的确定方法及装置在审
申请号: | 202110316840.9 | 申请日: | 2021-03-23 |
公开(公告)号: | CN113073326A | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 吴金臻;郑浩旋 | 申请(专利权)人: | 重庆惠科金渝光电科技有限公司;惠科股份有限公司 |
主分类号: | C23F1/16 | 分类号: | C23F1/16;C23F1/08;G01N31/00 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 张志江 |
地址: | 400000 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 蚀刻 工艺 中的 补酸量 确定 方法 装置 | ||
1.一种蚀刻工艺中的补酸量的确定方法,其特征在于,包括以下步骤:
根据待蚀刻产品的待蚀刻涂层的厚度及蚀刻面积,计算待蚀刻部分的量;
根据所述待蚀刻部分的量,计算酸的使用量;
根据所述酸的使用量、待蚀刻产品的传送速度及待蚀刻产品在蚀刻槽中的停留时间,计算单位时间内酸的补给量。
2.如权利要求1所述的蚀刻工艺中的补酸量的确定方法,其特征在于,所述根据所述酸的使用量及所述待蚀刻产品的传送速度,计算预设时间内酸的补给量的步骤之后,还包括:
在经过第一预设时间后,根据所述单位时间内酸的补给量计算第一预设时间内酸的补给量;
向蚀刻槽中按照第一预设时间内酸的补给量补酸;
在经过第二预设时间后,获取所述蚀刻槽中酸的浓度;
计算所述蚀刻槽中酸的浓度与设定酸浓度的差值;
若所述蚀刻槽中酸的浓度与设定酸浓度的差值为正,则减小单位时间内酸的补给量。
3.如权利要求2所述的蚀刻工艺中的补酸量的确定方法,其特征在于,所述第一预设时间为20s~10min。
4.如权利要求2所述的蚀刻工艺中的补酸量的确定方法,其特征在于,所述第二预设时间为30min~120min。
5.如权利要求2所述的蚀刻工艺中的补酸量的确定方法,其特征在于,所述在经过第二预设时间后,获取所述蚀刻槽中酸的浓度,并计算所述蚀刻槽中酸的浓度与设定酸浓度的差值的步骤之后,还包括:
若所述蚀刻槽中酸的浓度与设定酸浓度的差值为负,则增大单位时间内酸的补给量。
6.如权利要求2所述的蚀刻工艺中的补酸量的确定方法,其特征在于,所述在经过第二预设时间后,获取所述蚀刻槽中酸的浓度,并计算所述蚀刻槽中酸的浓度与设定酸浓度的差值的步骤之后,还包括:
若所述蚀刻槽中酸的浓度与设定酸浓度的差值为正,且大于第一预设值,则发出报警信号。
7.如权利要求2所述的蚀刻工艺中的补酸量的确定方法,其特征在于,所述在经过第二预设时间后,获取所述蚀刻槽中酸的浓度,并计算所述蚀刻槽中酸的浓度与设定酸浓度的差值的步骤之后,还包括:
若所述蚀刻槽中酸的浓度与设定酸浓度的差值为负,且小于第二预设值,则发出报警信号。
8.如权利要求1所述的蚀刻工艺中的补酸量的确定方法,其特征在于,所述酸包括磷酸、醋酸、硝酸中的一种。
9.一种蚀刻工艺中的补酸量的确定装置,其特征在于,所述蚀刻工艺中的补酸量的确定装置包括控制装置,所述控制装置包括存储器、处理器及存储在所述存储器上的程序,所述程序可在所述处理器上运行蚀刻工艺中的补酸量的确定,所述程序配置为实现如权利要求1所述的蚀刻工艺中的补酸量的确定方法的步骤。
10.如权利要求9所述的蚀刻工艺中的补酸量的确定装置,其特征在于,所述蚀刻工艺中的补酸量的确定装置还包括:
浓度分析仪,与所述控制装置电连接,用于检测蚀刻槽中酸的浓度并发送给所述控制装置;以及,
补酸装置,与所述控制装置电连接,用于向蚀刻槽中按照第一预设时间内酸的补给量补酸,若所述蚀刻槽中酸的浓度与设定酸浓度的差值为正,则减小单位时间内酸的补给量。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆惠科金渝光电科技有限公司;惠科股份有限公司,未经重庆惠科金渝光电科技有限公司;惠科股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110316840.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。