[发明专利]一种数据处理算法

说明书

本发明申请公开了一种数据处理算法，设定数组Q组、每组数组的模数转换值N个以及对应的计算底数X的幂k；输出组数组G₁、G₂、G₃、…G_Q各组数组的N个模数转换值，依次记为G₁(AD_1，1、AD_1，2、…、AD_{1，（N‑1）}、AD_1，N)、G₂(AD_2，1、AD_2，2、…、AD_{2，（N‑1）}、AD _2，N)、…G_Q(AD_Q，1、AD_Q，2、…、AD_{Q，（N‑1）}、AD_Q，N)；S3.中位数测度值；极小值的测度值；计算各数组的极大值、众数、调和平均数、几何平均数、和多维测度值。本数据处理算法通过对多组模数转换值进行中位数、极小值、极大值、众数、调和平均数、算数平均数进行测度，再将上述测度进行多维测度运算，能够显著提高模数转换电路的ADC芯片的模数转换精度，相对于现有的ADC芯片运算精度有大幅度的提升。

技术领域

本发明涉及模数转换电路和芯片的数据处理算法，具体涉及一种数据处理算法。

背景技术

目前ADC芯片模数转换方式是模拟电压值V与模数转换输出值是线性关系：

模数转换值 =（Grade÷V_IC）× V_AD,若计算有小数位，可按4舍5入等方式取整数：

V_AD：模拟输入电压值V；

V_IC：参考电压值，一般该电压等于芯片工作电压，多数情况为+5V，也可以有不同的值，但芯片在执行程序之前必须事先确定，即是一个固定值。

Grade：将V_IC均匀分为等分数量，该数可能是256、4096、…等，但芯片在执行程序之前必须事先确定，即是一个固定值。

目前ADC芯片在实际模数转换时，对同一个V_AD，在不同时间内得出的一组模数转换值G（AD₁、AD₂、…、AD_n-1、AD_n）往往不一致的。甚至经常出现下列情况：

（1）V_AD1 V_AD2，但这两个电压值相差比较小时，而V_AD1的模数转换值 V_AD2的模数转换值；

（2）V_AD= 0，0电压的模数转换值 0，是1、2、3、4、5等非负整数值。

一般来说，通常做法是以数组G平均数（从数学的角度来看，实际上也是线性处理）作为最终确定的模数转换值，但是该种方法的结果往往降低芯片模数转换的精确度。

发明内容

本发明意在提供一种非线性的新型度量方式，该测度与传统经典模数转换的线性关系相比，其精确度大幅度提升，特别对微量物质的检测有极大的帮助。

为达到以上目的，提供如下方案：

一种数据处理算法，包括以下步骤：

S1. 设定数组Q组、每组数组的模数转换值N个以及对应的计算底数X的幂k；