[发明专利]导电粒子的检测方法

权利要求书

1.一种导电粒子的检测方法，其特征在于，包括：

采集导电粒子图像，所述导电粒子图像中包括标记图形和目标区域；所述标记图形用于定位所述目标区域；

根据所述标记图形和所述目标区域的相对位置关系，获取所述导电粒子图像中的目标区域图像；

确定所述目标区域图像中凸点区域的边缘，并对所述目标区域图像进行划分获取凸点区域图像；

查找所述凸点区域图像中的导电粒子；

统计并输出所述导电粒子的检测结果。

2.根据权利要求1所述的导电粒子的检测方法，其特征在于，在根据所述标记图形和目标区域的相对位置关系，获取所述导电粒子图像中的目标区域图像前，所述方法还包括：

利用所述标记图形对所述导电粒子图像进行旋转校正。

3.根据权利要求2所述的导电粒子的检测方法，其特征在于，所述导电粒子图像中包括两个以上的所述标记图形，所述利用所述标记图形对所述导电粒子图像进行旋转校正包括：

获取两个所述标记图形的坐标，根据两个所述标记图形的坐标获取所述标记图形的旋转校正角度；

根据所述旋转校正角度，利用仿射变换对所述导电粒子图像进行校正。

4.根据权利要求1或2所述的导电粒子的检测方法，其特征在于，所述根据所述标记图形和目标区域的相对位置关系，获取所述导电粒子图像中的目标区域图像包括：

获取所述标记图形和所述目标区域的相对位置关系；

根据所述导电粒子图像中的所述标记图形，定位所述导电粒子图像中的目标区域；

根据所述目标区域对所述导电粒子图像进行划分，获取所述目标区域图像。

5.根据权利要求1所述的导电粒子的检测方法，其特征在于，所述确定所述目标区域图像中凸点区域的边缘，并对所述目标区域图像进行划分获取凸点区域图像包括：

获取所述目标区域图像中的梯度变换，对所述目标区域图像进行卷积；

通过所述目标区域图像的灰度直方图确定第一预设阈值；

根据所述第一预设阈值对所述目标区域图像进行二值分割，获取所述目标区域图像的二值图；

根据所述二值图的水平垂直投影特征确定所述凸点区域的边缘参数；

根据所述边缘参数对所述目标区域图像进行划分，获取凸点区域图像。

6.根据权利要求1所述的导电粒子的检测方法，其特征在于，所述查找所述凸点区域图像中的导电粒子包括：

利用直方图均衡化增强所述凸点区域图像的图像对比度；

对增强图像对比度后的所述凸点区域图像求二阶导，确定所述凸点区域图像中的导电粒子区域；

根据所述导电粒子区域中的连通域形位特征寻找所述导电粒子。

7.根据权利要求6所述的导电粒子的检测方法，其特征在于，所述连通域形位特征包括所述导电粒子区域中的连通域所占的像素宽度、像素高度、中心坐标和平均灰度。

8.根据权利要求7所述的导电粒子的检测方法，其特征在于，所述根据所述导电粒子区域中的连通域形位特征寻找所述导电粒子包括：

将寻找到的粒子的连通域形位特征分别与第二预设阈值进行比较，判断寻找到的所述粒子是否为真实的导电粒子。

9.根据权利要求8所述的导电粒子的检测方法，其特征在于，所述统计并输出所述导电粒子的检测结果包括：

对判定为真实粒子的所述导电粒子的大小、数量和分布情况进行统计；所述分布结果包括偏移量。

10.根据权利要求1所述的导电粒子的检测方法，其特征在于，在所述统计并输出所述导电粒子的检测结果后，所述方法还包括：

将所述检测结果与第三预设阈值进行比较，并根据比较结果判断导电粒子压合是否合格。