[发明专利]导电粒子的检测方法

说明书

本发明涉及ACF导电粒子压合检测技术领域，公开了一种导电粒子的检测方法，包括采集导电粒子图像，所述导电粒子图像中包括标记图形和目标区域；所述标记图形用于定位所述目标区域；根据所述标记图形和所述目标区域的相对位置关系，获取所述导电粒子图像中的目标区域图像；确定所述目标区域图像中凸点区域的边缘，并对所述目标区域图像进行划分获取凸点区域图像；查找所述凸点区域图像中的导电粒子；统计并输出所述导电粒子的检测结果。通过两次定位来精准地分割导电粒子图像中的凸点区域，并对凸点区域内的导电粒子进行检查，可以有效减少图像偏移对检测结果的影响，提高导电粒子的检测精度及检测效率。

技术领域

本发明涉及ACF导电粒子压合检测技术领域，特别是涉及一种导电粒子的检测方法。

背景技术

异方性导电膜(Anisotropic Conductive Film，ACF)是一种显示器件与电路连接所必不可少的关键性材料，主要包括树脂粘合剂、导电粒子两大部分，导电粒子是金属涂覆的聚合物球体，粘合剂是热固性树脂。

当前对于电子产品中导电粒子的检测，主要有两种，一是通过面阵相机采集图像并于微分干涉显微镜中成像，然后人工肉眼去检测导电粒子是否存在缺陷。另一种是通过面阵相机采集图像，利用算法分析导电粒子是否存在缺陷。然而，采集到的ACF导电粒子图像存在微小偏移，这些偏移会影响到后期的检测效果。

发明内容

基于此，有必要针对采集到的ACF导电粒子图像存在微小偏移的问题，提供一种导电粒子的检测方法。

一种导电粒子的检测方法，包括采集导电粒子图像，所述导电粒子图像中包括标记图形和目标区域；所述标记图形用于定位所述目标区域；根据所述标记图形和所述目标区域的相对位置关系，获取所述导电粒子图像中的目标区域图像；确定所述目标区域图像中凸点区域的边缘，并对所述目标区域图像进行划分获取凸点区域图像；查找所述凸点区域图像中的导电粒子；统计并输出所述导电粒子的检测结果。

上述导电粒子的检测方法，利用标记图形可以在采集到的导电粒子图像中对目标区域进行初步定位，再利用标记图形和目标区域的相对位置关系这一已知的先验信息粗定位导电粒子图像中的目标区域图像。通过确定所述目标区域图像中凸点区域的边缘，来进一步地确定凸点区域(Bump)在图像中的精确位置，以此划分获取凸点区域图像。在凸点区域(Bump)中查找所有导电粒子的情况，并对查找到的导电粒子进行统计，从而完成对导电粒子的检测。通过两次定位来精准地分割导电粒子图像中的凸点区域内的导电粒子，可以有效减少图像偏移对检测结果的影响，提高导电粒子的检测精度及检测效率。

在其中一个实施例中，在根据所述标记图形和目标区域的相对位置关系，获取所述导电粒子图像中的目标区域图像前，所述方法还包括利用所述标记图形对所述导电粒子图像进行旋转校正。

在其中一个实施例中，所述导电粒子图像中包括两个以上的所述标记图形，所述利用所述标记图形对所述导电粒子图像进行旋转校正包括获取两个所述标记图形的坐标，根据两个所述标记图形的坐标获取所述标记图形的旋转校正角度；根据所述旋转校正角度，利用仿射变换对所述导电粒子图像进行校正。

在其中一个实施例中，所述根据所述标记图形和目标区域的相对位置关系，获取所述导电粒子图像中的目标区域图像包括获取所述标记图形和所述目标区域的相对位置关系；根据所述导电粒子图像中的所述标记图形，定位所述导电粒子图像中的目标区域；根据所述目标区域对所述导电粒子图像进行划分，获取所述目标区域图像。

在其中一个实施例中，所述确定所述目标区域图像中凸点区域的边缘，并对所述目标区域图像进行划分获取凸点区域图像包括获取所述目标区域图像中的梯度变换，对所述目标区域图像进行卷积；通过所述目标区域图像的灰度直方图确定第一预设阈值；根据所述第一预设阈值对所述目标区域图像进行二值分割，获取所述目标区域图像的二值图；根据所述二值图的水平垂直投影特征确定所述凸点区域的边缘参数；根据所述边缘参数对所述目标区域图像进行划分，获取凸点区域图像。