[发明专利]医疗器械寿命评估方法和装置

说明书

本发明提供了医疗器械寿命评估方法和装置，该方法包括：确定待评估医疗器械的评估参数；其中，不同类医疗器械对应不同的评估参数；根据评估参数和待评估医疗器械，确定至少两组加速应力参数；获取评估参数在预设测试时间内的性能数据；其中，性能数据为在预设测试时间下，利用至少两组加速应力参数对待评估医疗器械进行测试得到的；对性能数据进行分析，获得对应待评估医疗器械的退化数据；利用退化数据和预设测试时间构建待评估医疗器械的退化模型；根据退化模型和预设测试时间，得到对应待评估医疗器械的期望寿命。本方案能够提高医疗器械的寿命评估效率。

技术领域

本发明涉及可靠性检测技术领域，特别涉及医疗器械寿命评估方法和装置。

背景技术

在医疗器械领域，对产品的标准和要求非常严格，对每一类医疗器械均需要进行寿命测试。但是随着医疗器械的使用时长和使用次数的增加，产品的性能会逐渐发生衰减退化。而在传统的可靠性测试过程中，由于该退化过程较为缓慢，短时间之内无法获取到退化数据，因此进行寿命测试的试验周期较长，导致测试效率较低。

发明内容

本发明实施例提供了医疗器械寿命评估方法和装置，能够提高医疗器械的寿命评估效率。

第一方面，本发明提供了医疗器械寿命评估方法，包括：

确定待评估医疗器械的评估参数；其中，不同类医疗器械对应不同的评估参数；

根据所述评估参数和所述待评估医疗器械，确定至少两组加速应力参数；

获取所述评估参数在预设测试时间内的性能数据；其中，所述性能数据为在所述预设测试时间下，利用所述至少两组加速应力参数对所述待评估医疗器械进行测试得到的；

对所述性能数据进行分析，获得对应所述待评估医疗器械的退化数据；

利用所述退化数据和所述预设测试时间构建所述待评估医疗器械的退化模型；

根据所述退化模型和所述预设测试时间，得到对应所述待评估医疗器械的期望寿命。

可选地，所述预设测试时间中包括至少三个按照时间顺序排列的测试时间点；

所述对所述性能数据进行分析，获得对应所述待评估医疗器械的退化数据，包括：

针对每一个测试时间点，均执行：

确定所述性能数据中超出预设阈值范围的性能数据的数量；

确定所述数量和所述待评估医疗器械的数量的比值，并将该比值确定为对应该测试时间点的退化数据。

可选地，所述利用所述退化数据和所述预设测试时间构建所述待评估医疗器械的退化模型，包括：

针对每一组加速应力参数，均执行：

利用Hallberg-Peck模型对该组加速应力参数进行加速运算，获得对应该组加速应力参数的加速因子；

根据所述加速因子和所述预设测试时间，确定对应正常应力参数下的标准测试时间；其中，所述标准测试时间由所述加速因子和所述预设测试时间相乘得到；

根据所述预设测试时间，将对应该组加速应力参数的退化数据和所述标准测试时间进行组合；

根据组合的所述退化数据和所述标准测试时间构建退化模型。

可选地，所述根据组合的所述退化数据和所述标准测试时间构建退化模型，包括：

对所述标准测试时间进行取对数运算，获得自变量；

根据所述退化数据确定对应的可靠度数据，对所述可靠度数据依次进行取倒数运算、取对数运算和取对数运算，获得因变量；