[发明专利]通过方波测试光模块发送系统阻抗的连续性的方法、系统及介质

权利要求书

1.一种通过方波测试光模块发送系统阻抗的连续性的方法，其特征在于，包括：

步骤1：选定测试方波的频率；

步骤2：用光示波器测试该方波的光眼；

步骤3：基于反射原理，通过光眼计算链路的阻抗变化；

步骤4：根据光眼计算阻抗突变点的位置，并结合链路的阻抗变化对链路进行优化。

2.根据权利要求1所述的通过方波测试光模块发送系统阻抗的连续性的方法，其特征在于，反射原理为：

P1+P3＝P2；

P3/P1＝(Z3-Z2)/(Z3+Z2)；

P4/P3＝(Z1-Z2)/(Z1+Z2)；

P4+P6＝P5；

P6/P4＝(Z3-Z2)/(Z3+Z2)；

其中，P1为入射功率；P2为传输功率；P3为反射功率；P4为第二次入射功率；P5为第二次传输功率；P6为第二次反射功率；Z1为软带的阻抗，Z2为软带和激光器之间的链路阻抗；Z3为激光内阻。

3.根据权利要求2所述的通过方波测试光模块发送系统阻抗的连续性的方法，其特征在于，激光内阻为10欧姆，PCB和软带的阻抗DML控制为单端25欧姆，EML控制为单端50欧姆，从而计算链路部分的阻抗。

4.根据权利要求1所述的通过方波测试光模块发送系统阻抗的连续性的方法，其特征在于，电磁波在PCB中的传播速度为：

其中，C为电磁波在真空中的传播速度，C＝3*10^8m/s，ε_r为介质的相对介电常数；

根据公式：T＝2L/V，计算出阻抗突变点的位置：L＝TV/2；

其中，T为电磁波传播的时间。

5.一种通过方波测试光模块发送系统阻抗的连续性的系统，其特征在于，包括：

模块M1：选定测试方波的频率；

模块M2：用光示波器测试该方波的光眼；

模块M3：基于反射原理，通过光眼计算链路的阻抗变化；

模块M4：根据光眼计算阻抗突变点的位置，并结合链路的阻抗变化对链路进行优化。

6.根据权利要求5所述的通过方波测试光模块发送系统阻抗的连续性的系统，其特征在于，反射原理为：

P1+P3＝P2；

P3/P1＝(Z3-Z2)/(Z3+Z2)；

P4/P3＝(Z1-Z2)/(Z1+Z2)；

P4+P6＝P5；

P6/P4＝(Z3-Z2)/(Z3+Z2)；

其中，P1为入射功率；P2为传输功率；P3为反射功率；P4为第二次入射功率；P5为第二次传输功率；P6为第二次反射功率；Z1为软带的阻抗，Z2为软带和激光器之间的链路阻抗；Z3为激光内阻。

7.根据权利要求6所述的通过方波测试光模块发送系统阻抗的连续性的系统，其特征在于，激光内阻为10欧姆，PCB和软带的阻抗DML控制为单端25欧姆，EML控制为单端50欧姆，从而计算链路部分的阻抗。

8.根据权利要求5所述的通过方波测试光模块发送系统阻抗的连续性的系统，其特征在于，电磁波在PCB中的传播速度为：

其中，C为电磁波在真空中的传播速度，C＝3*10^8m/s，ε_r为介质的相对介电常数；

根据公式：T＝2L/V，计算出阻抗突变点的位置：L＝TV/2；

其中，T为电磁波传播的时间。

9.一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的方法的步骤。