[发明专利]通过方波测试光模块发送系统阻抗的连续性的方法、系统及介质

说明书

本发明提供了一种通过方波测试光模块发送系统阻抗的连续性的方法、系统及介质，包括：步骤1：选定测试方波的频率；步骤2：用光示波器测试该方波的光眼；步骤3：基于反射原理，通过光眼计算链路的阻抗变化；步骤4：根据光眼计算阻抗突变点的位置，并结合链路的阻抗变化对链路进行优化。本发明可避免使用昂贵的测试设备，降低了测试成本；避免了重新做PCB等治具，提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及阻抗测试技术领域，具体地，涉及一种通过方波测试光模块发送系统阻抗的连续性的方法、系统及介质。

背景技术

光眼图是光传输系统里一个十分重要的指标，一般影响光眼质量的因素有发送端链路阻抗连续性、发送端链路带宽、激光器bonding线长短、IBIAS等参数的设置等，而发送端链路阻抗连续性对光眼图质量尤其重要，只要信号链路有阻抗改变就必有反射产生，而反射对信号质量有严重的影响，可能造成光眼图不满足指标，严重的可能要重新设计PCB或TOSA。

光传输系统中，光模块的发送端组成如图1所示，BIAS-T为激光器提供直流，驱动器为激光器提供交流，激光器发出调制信号进行信号传输。驱动器输出阻抗一般是差分100欧姆或差分50欧姆，差分线L1、L2、L3、软带和驱动器输出阻抗相匹配，这在PCB上比较容易控制，但差分线和耦合电容、BIAS-T，PCB和软带以及软带和激光器要做到阻抗匹配是十分不容易的，光眼图的质量很大程度上取决于这几个部分的阻抗匹配，因此测试链路的阻抗连续性成为一个十分重要的调试定位手段。

传统测试链路阻抗的方法是另外做一块和图1系统中叠层相同的PCB，将驱动器和软带之间的那部分电路完全复制到新PCB中，再用高频连接器将DUT接到TDR测试，如图2所示。传统测试方法的缺点是：1、需要做专用的测试治具，测试费用增加，周期加长；2、需要昂贵的仪表(时域反射仪)才能完成测试及数据分析；3、此方法不能覆盖整个发送端链路(无法测试软带和TOSA的阻抗连续性)。因此，需要一种新的测试方法解决上述问题。

专利文献CN103995183B(申请号：CN201410249268.9)公开了一种基于快速脉冲响应的PCB布线阻抗连续性检测方法，以控制理论为支撑点，结合脉冲响应、信号反射等关键电气因素，搭建微分控制器，调节微分控制器的微分环节，产生快速阶跃脉冲；主板断电将所述快速阶跃脉冲直接引入PCB板上待测布线路径输入端，搭建低通滤波器，对PCB板上待测布线路径输出端的信号进行高频过滤、采集并离散取样；对输出端信号的离散取样值进行傅里叶变换，得到输出信号频谱，并与即有的输入信号变换后的频谱相比较，确认该PCB板走线上阻抗不连续点，进行阻抗的连续性调整。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明的目的是提供一种通过方波测试光模块发送系统阻抗的连续性的方法、系统及介质。

根据本发明提供的通过方波测试光模块发送系统阻抗的连续性的方法，包括：

步骤1：选定测试方波的频率；

步骤2：用光示波器测试该方波的光眼；

步骤3：基于反射原理，通过光眼计算链路的阻抗变化；

步骤4：根据光眼计算阻抗突变点的位置，并结合链路的阻抗变化对链路进行优化。

优选的，反射原理为：

P1+P3＝P2；

P3/P1＝(Z3-Z2)/(Z3+Z2)；

P4/P3＝(Z1-Z2)/(Z1+Z2)；

P4+P6＝P5；

P6/P4＝(Z3-Z2)/(Z3+Z2)；