[发明专利]扫描系统和扫描控制方法

说明书

本申请涉及一种扫描系统和扫描控制方法。所述扫描控制方法包括获取并根据样品舱的几何尺寸、扫描装置的射线发生器与扫描装置的探测器之间的距离、射线发生器到准直器的距离和探测器像素点的大小得到扫描装置的最大分辨率。获取扫描样品舱的目标分辨率。如果目标分辨率大于最大分辨率，则提示样品舱会碰撞到准直器。准直器距离样品舱的距离越近，分辨率越高。当目标分辨率大于最大分辨率时，样品舱与准直器发生碰撞。扫描控制方法通过比较最大分辨率和目标分辨率的大小，提前进行预警，避免因设定的目标分辨率过大，引起样品舱与准直器的碰撞。

技术领域

本申请涉及医疗技术领域，特别是涉及一种扫描系统和扫描控制方法。

背景技术

扫描装置通过调节射线发生器和探测器的位置，实现分辨率的调节。当利用扫描装置进行高通量扫描时会涉及到将样品舱从高通量样品室到扫描腔的转移的过程和调节分辨率的过程。

这些过程中均有可能发生因空间上的干涉导致样品舱与外界物体或者扫描装置的内部结构的碰撞。轻则因碰撞造成样品舱内样品的移动从而导致扫描失败，重则导致样品舱损坏甚至扫描装置内部结构的损坏。如何才能防止样品舱与扫描装置发生碰撞是亟待解决的问题。

发明内容

基于此，有必要针对怎样才能简便的检测出薄膜应力的大小的问题，提供一种扫描系统和扫描控制方法。

一种扫描控制方法，包括：

获取样品舱的几何尺寸、扫描装置的射线发生器与所述扫描装置的探测器之间的距离、所述射线发生器到所述扫描装置的准直器的距离和所述探测器像素点的大小；

根据所述样品舱的几何尺寸、所述射线发生器与所述探测器之间的距离、所述射线发生器到所述准直器的距离和所述探测器像素点的大小得到所述扫描装置的最大分辨率；

获取扫描所述样品舱的目标分辨率；

如果所述目标分辨率大于所述最大分辨率，则进行提示。

在一个实施例中，在所述根据所述样品舱的几何尺寸、所述射线发生器与所述探测器之间的距离、所述射线发生器到所述准直器的距离和所述探测器像素点的大小得到所述扫描装置的最大分辨率的步骤之前，还包括：

控制携带样品舱的机械臂按照规划路径将所述扫描装置移动到检测位置，并在移动过程中进行防碰撞检测。

在一个实施例中，在所述获取样品舱的几何尺寸、扫描装置的射线发生器与所述扫描装置的探测器之间的距离、所述射线发生器到所述扫描装置的准直器的距离和所述探测器像素点的大小的步骤之前，还包括：

获取多个所述样品舱的扫描顺序、各所述样品舱在样品室的位置信息和所述扫描装置的扫描中心的位置信息。

根据多个所述样品舱的扫描顺序、各所述样品舱在样品室的位置信息和所述扫描装置的扫描中心的位置信息规划所述机械臂的行进路径，得到所述规划路径。

在一个实施例中，在所述控制携带样品舱的机械臂按照规划路径将所述扫描装置移动到检测位置，并在移动过程中进行防碰撞检测的步骤之前，还包括：

控制所述机械臂按照所述扫描顺序抓取所述样品室内的一个所述样品舱，并获取样品舱的几何尺寸。

在一个实施例中，所述获取样品舱的几何尺寸的步骤包括：

扫描所述样品舱的信息标识装置，以获取所述样品舱的参数信息，所述样品舱的参数信息包括所述样品舱的几何尺寸。

在一个实施例中，所述扫描控制方法还包括：

在所述目标分辨率小于所述最大分辨率时，控制所述扫描装置在所述目标分辨率下对所述样品舱进行扫描。

在一个实施例中，所述扫描控制方法还包括：