[发明专利]一种芯片测试机内提高抓取信号精度的方法

权利要求书

1.一种芯片测试机内提高抓取信号精度的方法，其特征在于包括如下步骤：

S1，以100ps为时间间隔取21个点作为信号变化的理想变化点P_n；

S2，以理想变化点P₁为中心，前后时间内以100ps的时间间隔各取5个时间点作为样本点，对每个样本点及理想变化点P₁分别进行检测扫描，并记录每次检测扫描结果，检测到信号变化记录为P，未检测到信号变化记录为F；

S3，对每个样本点及理想变化点P₁多次重复步骤S2的检测扫描，并记录每次检测扫描的检测扫描结果；

S4，根据扫描结果建立统计数据模型，统计数据模型的纵列按照每个样本点及理想变化点P₁的时间顺序进行排序，横列按照扫描发现信号变化的先后顺序进行排序；

S5，根据统计数据模型中信号变化的位置，得到该理想变化点P₁信号变化的真实变化点V₁；

S6，重复步骤S2-S5，获取21个理想变化点的真实变化点V_n；

S7，根据理想变化点P_n与真实变化点V_n计算信号的整体偏差时间∆t；

S8，将整体偏差时间∆t补偿在芯片测试机的信号输入端；

所述的步骤S5中得出信号变化的真实变化点V₁的方法具体如下：

若多次检测扫描中，信号变化点的位置一致，则取该点为信号变化的真实变化点V₁；若多次检测扫描中，信号变化点出现在多个位置，则取出现次数最多的点为信号变化的真实变化点V₁。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试机内提高抓取信号精度的方法，其特征在于：所述的步骤S3中重复检测扫描次数为99次。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试机内提高抓取信号精度的方法，其特征在于：所述的步骤S7中的整体偏差时间∆t的计算公式为。