[发明专利]检测方法及装置、检测设备和存储介质

权利要求书

1.一种检测方法，其特征在于，包括：

通过第一传感器采集待测件的信息，以确定所述待测件的多个部位的第一坐标；

根据所述第一坐标控制第二传感器采集多个所述部位的深度信息；

根据预设模板的基准深度、所述第一坐标和所述深度信息，计算第二坐标，所述预设模板与所述待测件为同一类型的工件，所述预设模板和所述待测件的表面的部位的排布基本相同，所述基准深度为第三传感器拍摄所述预设模板的每个预设部位时能够清晰对焦的深度；及

根据所述第二坐标控制所述第三传感器采集多个所述部位的信息，以检测所述待测件。

2.根据权利要求1所述检测方法，其特征在于，所述通过第一传感器采集待测件的信息，以确定所述待测件的多个部位的第一坐标，包括：

通过所述第一传感器采集所述待测件的待测图像；及

根据所述第一传感器采集所述待测图像时所述待测件的位置坐标、所述待测件的局部在所述待测图像中的图像坐标、及所述待测图像的像素尺寸，计算所述第一坐标。

3.根据权利要求1所述检测方法，其特征在于，还包括：

通过所述第一传感器采集所述预设模板的模板图像，以确定所述预设模板的多个预设部位的基准坐标；

根据所述基准坐标控制所述第三传感器采集所述预设部位的部位图像；

控制所述待测件与所述第三传感器的相对高度，并在不同相对高度下采集多个部位图像；

获取清晰度最高的所述部位图像对应的高度，以生成所述基准深度。

4.根据权利要求3所述检测方法，其特征在于，所述待测件包括第一标志边和第二标志边，所述第一标志边和所述第二标志边相交且不平行，所述通过第一传感器采集待测件的信息，以确定所述待测件的多个部位的第一坐标，包括：

通过所述第一传感器采集所述待测件的待测图像；

识别所述待测图像中的所述第一标志边和所述第二标志边；及

根据所述第一标志边和所述第二标志边、及所述模板图像中与所述第一标志边和所述第二标志边分别对应的第一标定边和第二标定边，确定所述待测件的偏移信息；及

根据所述基准坐标和所述偏移信息确定所述第一坐标。

5.根据权利要求4述检测方法，其特征在于，所述偏移信息包括偏移角度和偏移距离，所述根据所述第一标志边和所述第二标志边、及所述预设模板中与所述第一标志边和所述第二标志边分别对应的第一标定边和第二标定边，确定所述待测件的偏移信息，包括：

根据所述第一标志边与预定方向的第一夹角、和所述预设模板中与所述第一标志边对应的第一标定边和所述预定方向的第二夹角，确定所述偏移角度；及

根据所述第一标志边和所述第二标志边的第一交点对应的第一位置坐标、及所述预设模板中的所述第一标定边和第二标定边的第二交点的第二位置坐标，确定所述偏移距离。

6.根据权利要求1所述检测方法，其特征在于，还包括：

标定所述第一传感器和所述第二传感器的第一位置转换关系；

所述根据所述第一坐标控制第二传感器采集多个所述部位的深度信息，包括：

根据所述第一坐标及所述第一位置转换关系，控制所述第二传感器采集多个所述部位的深度信息。

7.根据权利要求1所述检测方法，其特征在于，还包括：

标定所述第一传感器和所述第三传感器的第二位置转换关系；

所述根据所述第二坐标控制所述第三传感器采集所述待测件的信息，以检测所述待测件，包括：

根据所述第二坐标及所述第二位置转换关系，控制所述第三传感器采集多个所述部位的信息，以检测所述待测件。