[发明专利]检测方法及装置、检测设备和存储介质

说明书

本申请的检测方法包括通过第一传感器采集待测件的信息，以确定待测件的多个部位的第一坐标；根据第一坐标控制第二传感器采集多个部位的深度信息；根据预设模板的基准深度、第一坐标和深度信息，计算第二坐标；及根据第二坐标控制第三传感器采集多个部位的信息，以检测待测件。本申请的检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质，通过第一传感器采集的信息确定待测件的多个部位的准确位置，然后再根据第一坐标来控制第二传感器准确地采集每个部位的深度信息，根据预设模板的基准深度，对深度信息进行调整，从而使得第三传感器根据调整后的第二坐标准确地采集待测件的多个部位的信息，进而提高检测效果。

技术领域

本申请涉及检测技术领域，特别涉及一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。

背景技术

目前，在通过检测设备对工件进行检测时，由于工件放置时的位置偏差，以及不同工件不同部位的高度的存在，导致工件采集信息的准确性较差，从而降低检测效果。

发明内容

本申请提供了一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。

本申请实施方式的检测方法包括通过第一传感器采集待测件的信息，以确定所述待测件的多个部位的第一坐标；根据所述第一坐标控制第二传感器采集多个所述部位的深度信息；根据预设模板的基准深度、所述第一坐标和所述深度信息，计算第二坐标；及根据所述第二坐标控制所述第三传感器采集多个所述部位的信息，以检测所述待测件。

本申请实施方式的检测装置包括第一采集模块、第一控制模块、计算模块和第二控制模块。第一采集模块用于通过第一传感器采集待测件的信息，以确定所述待测件的多个部位的第一坐标；第一控制模块用于根据所述第一坐标控制第二传感器采集多个所述部位的深度信息；计算模块用于根据预设模板的基准深度、所述第一坐标和所述深度信息，计算第二坐标；第二控制模块用于根据所述第二坐标控制所述第三传感器采集多个所述部位的信息，以检测所述待测件。

本申请实施方式的检测设备包括第一传感器、第二传感器和处理器。第一传感器，用于采集待测件的信息，以确定所述待测件的多个部位的第一坐标；第二传感器用于根据所述第一坐标采集多个所述部位的深度信息；处理器，用于根据预设模板的基准深度、所述第一坐标和所述深度信息，计算第二坐标；根据所述第二坐标控制所述第三传感器采集多个所述部位的信息，以检测所述待测件。

本申请实施方式的一种存储有计算机程序的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机程序被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行所述检测方法。所述检测方法包括通过第一传感器采集待测件的信息，以确定所述待测件的多个部位的第一坐标；通过第二传感器采集多个所述部位的深度信息；根据预设模板的基准深度、所述第一坐标和所述深度信息，计算第二坐标；及根据所述第二坐标控制所述第三传感器采集多个所述部位的信息，以检测所述待测件。

本申请的检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质，通过第一传感器采集的信息确定待测件的多个部位的第一坐标，以确定待测件的多个部位的准确位置，然后再根据第一坐标来控制第二传感器采集每个部位的深度信息，保证深度信息的采集准确性，然后根据预设模板的基准深度，对深度信息进行调整，从而使得第三传感器根据调整后的第二坐标进行待测件的多个部位的信息的采集时，能够准确地采集到每个部位的信息，进而提高检测效果。

本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；