[发明专利]一种光器件老化测试装置和方法有效
申请号: | 202110351937.3 | 申请日: | 2021-03-31 |
公开(公告)号: | CN113092074B | 公开(公告)日: | 2023-04-14 |
发明(设计)人: | 林楠;高繁荣;付永安 | 申请(专利权)人: | 武汉光迅科技股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 深圳市爱迪森知识产权代理事务所(普通合伙) 44341 | 代理人: | 何婷 |
地址: | 430074 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 器件 老化 测试 装置 方法 | ||
1.一种光器件老化测试装置,其特征在于,包括:温控系统、检测光路选择器和与所述检测光路选择器相连的光器件及检测光功率计;所述温控系统自动控制所述检测光路选择器、所述光器件和所述检测光功率计的工作温度;所述检测光路选择器用于控制将所述光器件发出的光接入到所述检测光功率计;所述检测光功率计用于实时记录和传输检测到的出光功率值;
装置还包括标准光路选择器和与之相连的标准稳定光源及标准光功率计;所述标准光路选择器的光路切换到所述检测光功率计的状态下,所述检测光路选择器处于关闭状态,所述光器件发出的光无法通过所述检测光路选择器的光路接入到所述检测光功率计,PC机用于接收由所述检测光功率计实时检测到的所述标准稳定光源的出光功率值;
其中,所述标准光路选择器还用于将光路切换到标准光功率计,此时,所述检测光路选择器处于打开状态,所述光器件发出的光通过所述检测光路选择器的光路接入到所述检测光功率计;以便PC机结合所述标准稳定光源的出光功率值,以及在所述标准光路选择器的光路切换到所述检测光功率计的状态下,所述检测光路选择器处于关闭状态时,获取到检测光功率计中的光功率值,通过两者的光功率值判定相应的所述光器件老化测试结果是否合格。
2.根据权利要求1所述的光器件老化测试装置,其特征在于,还包括工作电源和PC机,所述PC机用于接收和处理所述标准光功率计与所述检测光功率计实时传输的出光功率值。
3.根据权利要求2所述的光器件老化测试装置,其特征在于,还包括电流驱动器,所述电流驱动器用于将所述工作电源提供的电压根据所述光器件的类型调整为恒定的电流值。
4.根据权利要求2或3所述的光器件老化测试装置,其特征在于,还包括通信接口;所述检测光功率计和所述标准光功率计通过所述通信接口将检测到的出光功率值实时传送给所述PC机。
5.根据权利要求4所述的光器件老化测试装置,其特征在于,所述通信接口包括458、RJ45、USB和I2C接口中的一项或多项。
6.一种光器件老化测试方法,其特征在于,使用权利要求4所述的光器件老化测试装置,方法包括:将所述检测光路选择器和与所述检测光路选择器相连的光器件及检测光功率计置于自动控制工作温度的所述温控系统内,所述PC机通过所述通信接口监控所述光器件的工作温度,当所述光器件的工作温度稳定到设定的温度范围内时,开始记录时间及所述检测光功率计检测到的出光功率值;
若在设定的老化时长内,出光功率值的变化超过预设范围,则判定相应的所述光器件老化测试结果不合格;
若达到设定的老化时长后,出光功率值的变化在预设范围内,则判定相应的所述光器件老化测试结果合格;
阶段性地对所述检测光功率计进行稳定性测试,具体为:
准备稳定性测试前,所述标准光路选择器的光路接入到所述标准光功率计,所述PC机实时记录所述标准光功率计检测到的出光功率值;
开始稳定性测试时,关闭所述检测光路选择器的同时,将所述标准光路选择器的光路切换到所述检测光功率计,所述PC机实时记录所述检测光功率计检测到的出光功率值;
若所述检测光功率计检测到的出光功率值与所述标准光功率计检测到的出光功率值的差值在预设差值范围内,则相应的所述检测光功率计的稳定性测试合格,继续进行老化测试;
否则,相应的所述检测光功率计的稳定性测试不合格,停止老化测试。
7.根据权利要求6所述的光器件老化测试方法,其特征在于,在所述光器件的老化测试过程中,阶段性地对所述检测光功率计进行稳定性测试;稳定性测试过程中,PC机只对稳定性测试结果进行判定,根据稳定性测试结果选择继续进行老化测试或停止老化测试,停止老化测试视为老化测试结果不合格。
8.根据权利要求6所述的光器件老化测试方法,其特征在于,所述继续进行老化测试,具体为:
将所述标准光路选择器的光路切回到所述标准光功率计的同时,打开所述检测光路选择器,所述PC机实时记录所述标准光功率计检测到的出光功率值和所述检测光功率计检测到的出光功率值;
若在设定的老化时长内,所述检测光功率计检测到的出光功率值的变化超过预设范围,则判定相应的所述光器件老化测试结果不合格;
若达到设定的老化时长后,所述检测光功率计检测到的出光功率值的变化在预设范围内,则判定相应的所述光器件老化测试结果合格。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉光迅科技股份有限公司,未经武汉光迅科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110351937.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。