[发明专利]一种光器件老化测试装置和方法有效
申请号: | 202110351937.3 | 申请日: | 2021-03-31 |
公开(公告)号: | CN113092074B | 公开(公告)日: | 2023-04-14 |
发明(设计)人: | 林楠;高繁荣;付永安 | 申请(专利权)人: | 武汉光迅科技股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 深圳市爱迪森知识产权代理事务所(普通合伙) 44341 | 代理人: | 何婷 |
地址: | 430074 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 器件 老化 测试 装置 方法 | ||
本发明涉及通信技术领域,提供了一种光器件老化测试装置和方法,装置包括温控系统、检测光路选择器和与所述检测光路选择器相连的光器件及检测光功率计;所述温控系统自动控制所述检测光路选择器、所述光器件和所述检测光功率计的工作温度;所述检测光路选择器用于控制将所述光器件发出的光接入到所述检测光功率计;所述检测光功率计用于实时记录和传输检测到的出光功率值。本发明通过温控系统保证光器件的出光功率值不受温度因素的影响,通过将光器件与检测光功率计连为一体,在线监控光器件的出光功率值变化,仅需一次插拔即可完成光器件的老化测试,无需多次插拔测量光器件老化前后的出光功率值,避免了多次插拔对光功率值变化的影响,提高了老化测试效率。
技术领域
本发明涉及通信技术领域,特别是涉及一种光器件老化测试装置和方法。
背景技术
光模块的核心器件,光芯片在工作室,激光器内部温度不断上升,激光器芯片如有缺陷,在高温老化过程中,同样的工作电流下,局部将会产生更大的热量,热量的增加使得激光器有更大的温度梯度,导致芯片老化加速,输出光功率显著下降,一般而言,正常光器件高温下件经过24小时左右的老化电流光器件的输出光功率会趋于稳定状态,且老化前后光功率变化小于1dB(不同厂家的芯片老化时间、老化电流及允许的光功率变化稍有不同),异常的光器件经过高温老化后则会出现老化前后光功率变化超过1dB或无光失效现,通过老化方式可以有效识别不良光器件,及时剔除早期失效光模块,保证光模块质量。
传统的光器件主要有COB器件、TOSA器件,器件连接光口通常有MPO、LC等,测试老化前后的光功率变化,至少需要在不同时期测试2次光器件的光功率,影响光器件光功率的因素有温度、工作电流、光口连接等。由于2次测试是在不同时期进行的,为了保证测量的准确性,需要严格控制器件的工作温度、工作电流、光口连接状态,而光芯片的工作温度需要相对长时间才能稳定,不同时期光口插拔都会带来不同的插入损耗,温度、插拔带来的额外损耗都将影响光功率变化的判定,这对光器件的生产企业对老化光器件合格品的判定带来了严重的挑战。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:
光芯片的工作温度需要较长的时间才能稳定,现有的老化测试中往往忽略了这个情况,且不同时期的光口插拔都会带来不同的插入损耗;温度的不稳定和对光口的多次插拔都会带来额外的光功率损耗,影响对光功率变化的判定,这对光器件的生产企业对老化光器件合格品的判定带来了严重的挑战。
本发明通过如下技术方案达到上述目的:
第一方面,本发明提供了一种光器件老化测试装置,包括:温控系统、检测光路选择器和与所述检测光路选择器相连的光器件及检测光功率计;所述温控系统自动控制所述检测光路选择器、所述光器件和所述检测光功率计的工作温度;所述检测光路选择器用于控制将所述光器件发出的光接入到所述检测光功率计;所述检测光功率计用于实时记录和传输检测到的出光功率值。
优选的,所述光器件老化测试装置还包括标准光路选择器和与之相连的标准稳定光源及标准光功率计;所述标准光路选择器用于控制将所述标准稳定光源发出的光接入到所述标准光功率计或所述检测光功率计;所述标准光功率计用于实时记录和传输检测到的出光功率值。
优选的,所述光器件老化测试装置还包括工作电源和PC机,所述PC机用于接收和处理所述标准光功率计与所述检测光功率计实时传输的出光功率值。
优选的,所述光器件老化测试装置还包括电流驱动器,所述电流驱动器用于将所述工作电源提供的电压根据所述光器件的类型调整为恒定的电流值。
优选的,所述光器件老化测试装置还包括通信接口;所述检测光功率计和所述标准光功率计通过所述通信接口将检测到的出光功率值实时传送给所述PC机。
优选的,所述通信接口包括458、RJ45、USB和I2C接口中的一项或多项。
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