[发明专利]多通道ADC修调校准系统及方法在审

专利信息
申请号: 202110353169.5 申请日: 2021-03-31
公开(公告)号: CN113098513A 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 李加鹏;李文昌 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 刘歌
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 通道 adc 调校 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种多通道ADC修调校准系统,包括:

ADC,其输入端分别连接多路选择器和基准电压单元,所述ADC的输出端连接至转换结果寄存器;

修调熔丝阵列,用于读取多通道修调校准数据;

移位寄存器,一输入端与所述修调熔丝阵列相连,输出端连接至所述基准电压单元和所述转换结果寄存器,用于存储所述多通道修调校准数据;以及

转换时序控制电路,其输出端分别连接至所述多路选择器和所述移位寄存器,用于控制所述多路选择器的任意一个通道向ADC输入模拟量进行模数转换,同时控制所述移位寄存器输出对应该通道的修调校准数据,分别对基准电压和转换结果进行修调校准。

2.根据权利要求1所述的多通道ADC修调校准系统,所述转换时序控制电路控制ADC各通道的串行转换时序。

3.根据权利要求1所述的多通道ADC修调校准系统,所述移位寄存器为基准电压单元提供修调校准数据,多数基准电压单元为ADC的模数转换提供基准。

4.根据权利要求1所述的多通道ADC修调校准系统,所述移位寄存器为模数转换结果提供代码补偿。

5.根据权利要求1所述的多通道ADC修调校准系统,所述移位寄存器存储各个通道的专属修调校准数据。

6.一种多通道ADC修调校准方法,基于权利要求1-5任一项所述的多通道ADC修调校准系统进行修调校准,所述多通道ADC修调校准方法,包括:

操作S1:读取多通道修调校准数据;

操作S2:将所述多通道修调校准数据写入移位寄存器中;

操作S3:控制一个通道向ADC输入模拟量进行模数转换,同时控制所述移位寄存器输出对应该通道的修调校准数据,分别对基准电压和转换结果进行修调校准。

7.根据权利要求6所述的多通道ADC修调校准方法,操作S1时,通过修调熔丝阵列读取多通道的修调校准数据。

8.根据权利要求6所述的多通道ADC修调校准方法,操作S2时,将所述所述多通道的修调校准数据写入与所述修调熔丝阵列相连的移位寄存器中,用于为多通道ADC的任意通道进行模数转换时提供专属修调校准数据。

9.根据权利要求6所述的多通道ADC修调校准方法,能够实现对各个通道的转换单独修调校准。

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