[发明专利]多通道ADC修调校准系统及方法

说明书

本公开提供一种多通道ADC修调校准系统，包括：ADC，其输入端分别连接多路选择器和基准电压单元，所述ADC的输出端连接至转换结果寄存器；修调熔丝阵列，用于读取多通道修调校准数据；移位寄存器，一输入端与所述修调熔丝阵列相连，输出端连接至所述基准电压单元和所述转换结果寄存器，用于存储所述多通道修调校准数据；以及转换时序控制电路，其输出端分别连接至所述多路选择器和所述移位寄存器，用于控制所述多路选择器的任意一个通道向ADC输入模拟量进行模数转换，同时控制所述移位寄存器输出对应该通道的修调校准数据，分别对基准电压和转换结果进行修调校准。本公开同时还提供一种多通道ADC修调校准方法。

技术领域

本公开涉及半导体技术领域，尤其涉及一种多通道ADC修调校准系统及方法。

背景技术

多通道(例如电压、电流、温度、湿度等)ADC(Analog-to-digital converter，模拟数字转换器)在各自通道的模数转换过程中，不同的模拟输入量引入的误差各不相同，送入ADC进行转换后的精度也略有不同。为了确保每个通道的转换精度，电路设计时会采用修调校准的方法。但是不同的转换通道采用同一组修调校准数据不能做到每个通道转换的高精度，例如如图1所示的本地和远端双通道SAR型温度转换电路，对基准电压V_REF的修调校准数据在本地、远端双通道转换时是同一组校准数据，在代码输出端(DOUT)设计了本地温度值和远端温度值的平移量的单独调整。上述方案仅在输出温度代码进行单独补偿，没有对V_REF电压进行单独校准，导致本地和远端的温度曲线的线性度不能兼顾，当修改V_REF的校准数据只能保证一个通道的线性度，另外一个通道的线性度较差。

因此，如何实现精度更高的多通道ADC修调校准是一个亟需解决的技术课题。

发明内容

(一)要解决的技术问题

基于上述问题，本公开提供了一种多通道ADC修调校准系统及方法，以缓解现有技术中不能保证多通道ADC校准时每个通道转换的高精度等技术问题。

(二)技术方案

本公开的一个方面，提供一种多通道ADC修调校准系统，包括：

ADC，其输入端分别连接多路选择器和基准电压单元，所述ADC的输出端连接至转换结果寄存器；

修调熔丝阵列，用于读取多通道修调校准数据；

移位寄存器，一输入端与所述修调熔丝阵列相连，输出端连接至所述基准电压单元和所述转换结果寄存器，用于存储所述多通道修调校准数据；以及

转换时序控制电路，其输出端分别连接至所述多路选择器和所述移位寄存器，用于控制所述多路选择器的任意一个通道向ADC输入模拟量进行模数转换，同时控制所述移位寄存器输出对应该通道的修调校准数据，分别对基准电压和转换结果进行修调校准。

在本公开实施例中，所述转换时序控制电路控制ADC各通道的串行转换时序。

在本公开实施例中，所述移位寄存器为基准电压单元提供修调校准数据，多数基准电压单元为ADC的模数转换提供基准。

在本公开实施例中，所述移位寄存器为模数转换结果提供代码补偿。

在本公开实施例中，所述移位寄存器存储各个通道的专属修调校准数据。

本公开的另一方面，提供一种多通道ADC修调校准方法，基于以上任一项所述的多通道ADC修调校准系统进行多通道模数转换修调校准，所述多通道ADC修调校准方法，包括：

操作S1：读取多通道修调校准数据；

操作S2：将所述多通道修调校准数据写入移位寄存器中；