[发明专利]一种自动化芯片测试装置及方法

权利要求书

1.一种自动化芯片测试装置，包括清洁组件(1)、转动组件(2)、调节组件(3)、驱动组件(4)、升降组件(5)、夹紧组件(6)、测试组件(7)和运输组件(8)，其特征在于：所述清洁组件(1)设置有两个，两个清洁组件(1)均滑动连接在转动组件(2)上，转动组件(2)上转动连接有调节组件(3)，驱动组件(4)和转动组件(2)摩擦传动，驱动组件(4)和调节组件(3)啮合传动，驱动组件(4)连接在升降组件(5)上，升降组件(5)固定连接在转动组件(2)上，转动组件(2)滑动连接在夹紧组件(6)上，夹紧组件(6)和转动组件(2)通过螺纹传动，夹紧组件(6)上还滑动连接有测试组件(7)，测试组件(7)和夹紧组件(6)通过螺纹传动，夹紧组件(6)固定连接在运输组件(8)上。

2.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述清洁组件(1)包括清洁架(101)、清洁杆(102)、滑块(103)、弹簧(104)和调节杆(105)，清洁架(101)上固定连接有多个清洁杆(102)，多个清洁杆(102)的两边均设置有刀刃，清洁架(101)固定连接在滑块(103上，滑块(103上还固定连接有弹簧(104)，滑块(103)的上端固定连接有调节杆(105)。

3.根据权利要求2所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述转动组件(2)包括滑槽架(201)、摩擦轮(202)和夹紧板(203)，滑槽架(201)上滑动连接有两个滑块(103)，滑槽架(201)固定连接在摩擦轮(202)上，摩擦轮(202)转动连接在夹紧板(203)，两个弹簧(104)固定连接在滑槽架(201)上。

4.根据权利要求3所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述调节组件(3)包括调节齿圈(301)和调节弧板(302)，调节齿圈(301)上固定连接有两个调节弧板(302)，调节齿圈(301)转动连接在摩擦轮(202)上。

5.根据权利要求4所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述驱动组件(4)包括驱动支架(401)、驱动电机(402)、摩擦主动轮(403)和齿圈齿轮(404)，驱动支架(401)连接在升降组件(5)上，驱动支架(401)上固定连接有驱动电机(402)，驱动电机(402)的输出轴上固定连接有摩擦主动轮(403)和齿圈齿轮(404)，齿圈齿轮(404)和调节齿圈(301)啮合传动，摩擦主动轮(403)和摩擦轮(202)摩擦传动。

6.根据权利要求5所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述升降组件(5)包括升降支架(501)和气缸(502)，升降支架(501)上固定连接有气缸(502)，气缸(502)的气缸杆上固定连接有驱动支架(401)，驱动支架(401)滑动连接在升降支架(501)上。

7.根据权利要求6所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述夹紧组件(6)包括夹紧限位架(601)、夹紧丝杆(602)和夹紧电机(603)，夹紧板(203)滑动板连接在夹紧限位架(601)上，夹紧丝杆(602)转动连接在夹紧限位架(601)上，夹紧板(203)和夹紧丝杆(602)通过螺纹传动，夹紧丝杆(602)的其中一端固定连接在夹紧电机(603)的输出轴上，夹紧电机(603)固定连接在夹紧限位架(601)上。

8.根据权利要求7所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述测试组件(7)包括下夹板(701)、调节板(702)、调节螺杆(703)和测试连通管(704)，下夹板(701)滑动连接在夹紧限位架(601)上，下夹板(701))和夹紧丝杆(602)通过螺纹传动，调节板(702)滑动连接在下夹板(701)上，调节螺杆(703)转动连接在下夹板(701)上，调节螺杆(703)和下夹板(701)通过螺纹传动，下夹板(701)和调节板(702)上均固定连接有多个测试连通管(704)，下夹板(701)和夹紧板(203)上下对应，下夹板(701)和调节板(702)上的多个测试连通管(704)前后方向上一一对应。