[发明专利]一种自动化芯片测试装置及方法

说明书

本发明涉及电子元件测试设备技术领域，更具体的说是一种自动化芯片测试装置及方法，具有能对芯片的外侧进行清洁的优点，采用上述的一种自动化芯片测试装置测试芯片的方法，该方法包括以下步骤：S1：将芯片放置到多个摆放槽内，启动运输组件进行间断运输；S2：启动夹紧组件驱动转动组件带动两个清洁组件下降，驱动测试组件上升，对芯片进行性能的测试；S3：启动驱动组件和升降组件，实现清洁组件对芯片进行外部的清洁，检测芯片的外观。

技术领域

本发明涉及电子元件测试设备技术领域，更具体的说是一种自动化芯片测试装置及方法。

背景技术

公开号为CN111346845A的发明公开了一种芯片测试方法，用于芯片测试系统，芯片测试系统包括测试机和分类机，测试机包括有多个测试单元，芯片测试方法包括：配置测试机执行：通过各测试单元测试芯片；根据各测试单元的测试结果与预先配置的映射关系生成bin信号；将bin信号传送至分类机；配置分类机执行：接收bin信号；根据预先配置的bin信号与各出料口之间的对应关系将芯片放置在对应的出料口的料盘上；记录芯片在料盘的位置信息，并依据各芯片的位置信息和其对应的bin信号生成map图，实现了将芯片的测试结果细致化，工作人员可以通过map图直接看出芯片在各个测试单元的测试结果和不良品分布详情，以便于作出对应的改善方案。该发明的缺点是不能对芯片的外侧进行清洁。

发明内容

本发明的目的是提供一种自动化芯片测试装置及方法，具有能对芯片的外侧进行清洁的优点。

本发明的目的通过以下技术方案来实现：

一种自动化芯片测试装置，包括清洁组件、转动组件、调节组件、驱动组件、升降组件、夹紧组件、测试组件和运输组件，所述清洁组件设置有两个，两个清洁组件均滑动连接在转动组件上，转动组件上转动连接有调节组件，驱动组件和转动组件摩擦传动，驱动组件和调节组件啮合传动，驱动组件连接在升降组件上，升降组件固定连接在转动组件上，转动组件滑动连接在夹紧组件上，夹紧组件和转动组件通过螺纹传动，夹紧组件上还滑动连接有测试组件，测试组件和夹紧组件通过螺纹传动，夹紧组件固定连接在运输组件上。

所述清洁组件包括清洁架、清洁杆、滑块、弹簧和调节杆，清洁架上固定连接有多个清洁杆，多个清洁杆的两边均设置有刀刃，清洁架固定连接在滑块上，滑块上还固定连接有弹簧，滑块的上端固定连接有调节杆，两个弹簧固定连接在滑槽架上。

所述转动组件包括滑槽架、摩擦轮和夹紧板，滑槽架上滑动连接有两个滑块，滑槽架固定连接在摩擦轮上，摩擦轮转动连接在夹紧板。

所述调节组件包括调节齿圈和调节弧板，调节齿圈上固定连接有两个调节弧板，调节齿圈转动连接在摩擦轮上。

所述驱动组件包括驱动支架、驱动电机、摩擦主动轮和齿圈齿轮，驱动支架连接在升降组件上，驱动支架上固定连接有驱动电机，驱动电机的输出轴上固定连接有摩擦主动轮和齿圈齿轮，齿圈齿轮和调节齿圈啮合传动，摩擦主动轮和摩擦轮摩擦传动。

所述升降组件包括升降支架和气缸，升降支架上固定连接有气缸，气缸的气缸杆上固定连接有驱动支架，驱动支架滑动连接在升降支架上。

所述夹紧组件包括夹紧限位架、夹紧丝杆和夹紧电机，夹紧板滑动板连接在夹紧限位架上，夹紧丝杆转动连接在夹紧限位架上，夹紧板和夹紧丝杆通过螺纹传动，夹紧丝杆的其中一端固定连接在夹紧电机的输出轴上，夹紧电机固定连接在夹紧限位架上。

所述测试组件包括下夹板、调节板、调节螺杆和测试连通管，下夹板滑动连接在夹紧限位架上，下夹板和夹紧丝杆通过螺纹传动，调节板滑动连接在下夹板上，调节螺杆转动连接在下夹板上，调节螺杆和下夹板通过螺纹传动，下夹板和调节板上均固定连接有多个测试连通管，下夹板和夹紧板上下对应，下夹板和调节板上的多个测试连通管前后方向上一一对应。