[发明专利]一种电子探针薄片样品台及其使用方法

说明书

本发明公开了一种电子探针薄片样品台及其使用方法，包括滑轨座、竖向板、底座和样品台，样品台的底部设置有连接部件和滑移部件，连接部件包括套筒和连接轴，样品台能绕连接轴旋转，套筒上设置有两个对称布设的限位块，底座中设置有与限位块配合的限位槽，连接轴能带动套筒靠近或者远离限位槽，滑移部件包括纵板和两个横板；该方法包括以下步骤：一、样品台的逆时针翻转；二、电子探针薄片的安装；三、样品台的顺时针翻转复位。本发明通过样品台的翻转以使电子探针薄片在安装到样品台的底部时测试面朝下，避免电子探针薄片的测试面受到测试人员接触而被污染，且能有效地适应不同尺寸电子探针薄片的放置，适应范围广。

技术领域

本发明属于地质薄片分析技术领域，尤其是涉及一种电子探针薄片样品台。

背景技术

电子探针是一种可以用来分析薄片中矿物微区化学组成的分析仪器，因此在地质探测过程中需要将待研究分析的岩石和矿物制作成薄片，即电子探针薄片，电子探针薄片的长度一般为47mm～50mm，宽度不大于28mm，厚度1mm左右。电子探针中薄片样品台的安装区域不能调节，这样因为电子探针薄片尺寸的微小差异，大于安装区域的部分需要用金刚石笔将其切割再装载，从而可能造成薄片破碎或者有用部分被破坏；小于安装区域的电子探针薄片则需要使用导电胶进行固定，这种固定方式多为单侧或紧邻的两侧固定，固定效果较差，电子探针薄片在测试过程中随着样品台移动容易发生松动或掉落，从而造成电子探针信号发生漂移或造成仪器故障。

另外，目前电子探针薄片在安装到样品台的过程中，因为电子探针薄片的测试面朝上，测试面在安装过程中容易受到测试人员接触并被污染，从而造成测试的不准确。

因此，现如今缺少一种设计合理的电子探针薄片样品台及其使用方法，通过样品台的翻转以使电子探针薄片在安装到样品台的底部时测试面朝下，避免电子探针薄片的测试面受到测试人员接触而被污染，而翻转后电子探针薄片的测试面朝上且顶部相齐平，可减少样品台在测试过程中频繁地聚焦，提高测试效率和测试精度，且能有效地适应不同尺寸电子探针薄片的放置。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供一种电子探针薄片样品台，其设计合理，通过样品台的翻转以使电子探针薄片在安装到样品台的底部时测试面朝下，避免电子探针薄片的测试面受到测试人员接触而被污染，而翻转后电子探针薄片的测试面朝上且顶部相齐平，可减少样品台在测试过程中频繁地聚焦，提高测试效率和测试精度，且能有效地适应不同尺寸电子探针薄片的放置，适应范围广。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种电子探针薄片样品台，其特征在于：包括滑轨座、设置在滑轨座上的竖向板、设置在竖向板上的底座和设置在底座上且与滑轨座顶部平行的样品台；

所述样品台的底部设置有与底座配合的连接部件和能沿样品台纵横方向滑移的滑移部件，所述连接部件包括设置在样品台的底部且伸入底座内的套筒和穿设在套筒中的连接轴，所述连接轴伸出套筒的两端穿过底座，所述底座的顶部和套筒的顶部相齐平，所述样品台能绕连接轴旋转，所述套筒上设置有两个对称布设的限位块，所述底座中设置有与所述限位块配合的限位槽，所述连接轴能带动套筒靠近或者远离限位槽；

所述滑移部件包括能沿样品台横向滑移的纵板和两个穿设在纵板内且能沿样品台纵向滑移的横板。

上述的一种电子探针薄片样品台，其特征在于：所述底座包括矩形座体和两个对称设置在矩形座体上的座体耳，两个座体耳和矩形座体围成供套筒安装的容纳腔，所述矩形座体和两个座体耳围成U形结构，所述限位槽位于矩形座体内，所述限位槽的长度小于两个座体耳之间的间距，所述连接轴伸出套筒的两端均穿过座体耳；

所述样品台上设置有第一开口部和第二开口部。