[发明专利]一种高速电路中的超结结构在审

专利信息
申请号: 202110372316.3 申请日: 2021-04-07
公开(公告)号: CN112909080A 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 吕宇强;鞠建宏 申请(专利权)人: 江苏帝奥微电子股份有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06
代理公司: 北京睿智保诚专利代理事务所(普通合伙) 11732 代理人: 韩迎之
地址: 226000 江苏省南通市崇*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 高速 电路 中的 结构
【权利要求书】:

1.一种高速电路中的超结结构,其特征在于,

包括N型区和P型衬底;

N型区个数为n,n2,n为正整数,N型区设置在高速信号通道金属互联下方P型衬底上,N型区与P型衬底形成PN结。

2.根据权利要求1所述的一种高速电路中的超结结构,其特征在于,

N型区为深N阱、N阱或带有N型埋层的深阱。

3.根据权利要求1所述的一种高速电路中的超结结构,其特征在于,

N型区为条状N型区或单元状N型区。

4.根据权利要求3所述的一种高速电路中的超结结构,其特征在于,

条状N型区与高速信号通道金属线呈正交方式排列。

5.根据权利要求4所述的一种高速电路中的超结结构,其特征在于,

条状N型区的两端为有源区,连接偏置电压。

6.根据权利要求3所述的一种高速电路中的超结结构,其特征在于,

单元状N型区在P型衬底上以一定间距间隔的单元状分布。

7.根据权利要求6所述的一种高速电路中的超结结构,其特征在于,

单元状N型区通过与整片N型埋层连接,再由非高速信号通道位置引出有源区,连接偏置电压。

8.根据权利要求1-7任一项所述的一种高速电路中的超结结构,其特征在于,

N型区的结深范围为1μm-7μm,宽度范围为0.2μm-5μm,间距范围为3μm-10μm。

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