[发明专利]一种元件边缘效应抑制工装和方法在审

专利信息
申请号: 202110376485.4 申请日: 2021-04-08
公开(公告)号: CN113070777A 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 钟波;许乔;李海波;李洁;陈贤华;唐耿宇;周炼;邓文辉 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: B24B13/00 分类号: B24B13/00;B24B13/005
代理公司: 北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙) 11589 代理人: 李康
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 元件 边缘 效应 抑制 工装 方法
【说明书】:

发明适用于元件加工技术领域,本发明提供了一种元件边缘效应抑制工装,通过在元件边缘增加过渡挡块,使加工时,加工工具可以完全移出元件的边缘以对其进行加工,从而使得加工工具可遍历元件整面各个位置,并且避免了元件边缘加工受力畸变,从而抑制元件边缘效应;在此基础上,本发明还提出了一种应用上述工装进行元件边缘效应抑制的方法,使用上述工装后,加工时,加工工具可以移出元件边缘,从而加工工具可遍历元件整面各个位置;同时,当加工工具完全移出元件的边缘后,加工工具开始提升,即减小加工工具与元件的接触深度,确保加工工具始终未与挡块边缘刮擦,从而避免了加工时过渡挡块边缘受压损坏。

技术领域

本发明涉及元件加工技术领域,尤其是涉及一种元件边缘效应抑制工装和方法。

背景技术

随着航空航天、国防军工等尖端科学技术的迅速发展,元件,尤其大口径非球面元件有利于提高空间分辨率、扩大视场以及增大信号收集能力等,已被广泛的应用于各种光学系统中,如遥感相机、太空望远镜等。目前,元件,尤其是大口径非球面元件超精密加工较为困难,其中一个重要的影响因素就是边缘效应。

边缘效应是指,在元件的实际加工过程中,当工具移动到元件边缘而不露边时,由于最边缘区域的相对加工时间小于中间区域,则去除量减少,元件发生“翘边”;反之,当工具部份露出元件边缘时,由于相对压力增大,使边缘区域去除量增加,元件发生“塌边”,这两种现象都使元件边缘去除量难以控制,严重阻碍面形误差收敛。边缘效应会严重影响元件加工效率、表面质量以及有效口径,导致光学系统性能下降。因此,提供一种工装,在元件加工过程中,可以抑制边缘效应、提升元件边缘加工质量、增加元件有效口径将具有重要意义。

发明内容

本发明的目的是提供一种工装,可以用于元件的加工过程中,以对元件的边缘效应具有抑制作用。为了解决上述问题,根据本发明的一个方面,提供了一种元件边缘效应抑制工装,包括:底板,挡块组件,所述挡块组件位于底板上;所述挡块组件包括:多个过渡挡块,所述多个过渡挡块完全包裹元件的边缘,所述过渡挡块的上表面与所述元件边缘平滑过渡;多个定位挡块,所述每个过渡挡块对应设有一个定位挡块,所述定位挡块用于将所述过渡挡块固定于所述底板,所述定位挡块与所述底板可拆卸连接。

应用本发明的技术方案,在加工元件时,先将元件放置于底板中间,将多个过渡挡块分布在元件的边缘处,并将元件的待加工边缘完全包裹,用定位挡块将每个过渡挡块与元件的接触面抵紧,定位挡块与底板之间以可拆卸的方式固定,从而多个定位挡块将元件与过渡挡块固定在底板上。过渡挡块的上表面与所述元件边缘平滑过渡,从而在加工时,使工具可以完全移出元件边缘加工,使工具可遍历元件整面各个位置,并且避免了元件边缘加工受力畸变,抑制元件边缘效应。

进一步地,所述底板两面的面形精度优于20μm。上述方案中,下底板两面可采用超精密磨削加工,最终保证底板两面的面形精度优于20μm。

进一步地,所述过渡挡块的厚度与元件加工时使用的最大去除函数直径一致。上述方案中,当加工元件的边缘时,加工渡挡块的厚度与元件加工时使用的最大去除函数直径一致,使得工具移到元件的边缘时,可保证工具与元件的接触面积不变,从而不会改变工具与元件之间的相对压力,导致踏边现象的发生。

进一步地,所述过渡挡块的厚度大于所述元件加工时使用的最大去除函数。上述方案中,当加工元件的边缘时,加工渡挡块的厚度大于元件加工时使用的最大去除函数直径,使得工具移到元件的边缘时,可保证工具与元件的接触面积不变,从而不会改变工具与元件之间的相对压力,导致踏边现象的发生。

进一步地,所述过渡挡块的材质与所述元件的材质相同,所述过渡挡块的上表面的面形精度优于10μm。上述方案中,过渡挡块的材质与所述元件的材质相同,可将过渡挡块与元件整体采用超精密磨削一起加工,由此获得与元件参数一致、边缘平滑过渡的高精度局部表面,过渡挡块上表面加工面形精度优于10μm。

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