[发明专利]一种CP/FT测试方法、装置、系统、电子设备和介质

权利要求书

1.一种CP/FT测试方法，其特征在于，包括：

根据SPI时序图，生成测试激励；

将所述测试激励通过SPI接口灌入测试芯片；

获取所述测试芯片在所述测试激励下的输出值；

根据所述输出值，确定所述测试芯片是否合格。

2.根据权利要求1所述的CP/FT测试方法，其特征在于，获取所述测试芯片在所述测试激励下的输出值，包括：

利用所述SPI接口解析所述测试激励，确定所述测试芯片中进行测试的目标测试IP；

获取所述目标测试IP的输出值。

3.根据权利要求2所述的CP/FT测试方法，其特征在于，获取所述目标测试IP的输出值，包括：

测量所述目标测试IP对应引脚的输出值，或读取所述目标测试IP的寄存器的状态值，将所述状态值作为所述输出值。

4.根据权利要求2所述的CP/FT测试方法，其特征在于，在根据SPI时序图，生成测试激励之前，还包括：

设置所述SPI接口的数据传输格式中每次读写的数据字节数等于所述目标测试IP的寄存器的比特数。

5.根据权利要求1所述的CP/FT测试方法，其特征在于，根据所述输出值，确定所述测试芯片是否合格，包括：

将所述输出值与所述测试激励下的预设期望值进行比对；

若相同，则确定所述测试芯片合格；

若不相同，则确定所述测试芯片不合格。

6.一种CP/FT测试装置，其特征在于，包括：

生成模块，用于根据SPI时序图，生成测试激励；

灌入模块，用于将所述测试激励通过SPI接口灌入测试芯片；

获取模块，用于获取所述测试芯片在所述测试激励下的输出值；

确定模块，用于根据所述输出值，确定所述测试芯片是否合格。

7.根据权利要求1所述的CP/FT测试装置，其特征在于，所述获取模块，包括：

确定单元，用于利用所述SPI接口解析所述测试激励，确定所述测试芯片中进行测试的目标测试IP；

获取单元，用于获取所述目标测试IP的输出值。

8.一种CP/FT测试系统，其特征在于，包括：

测试芯片，用于在测试机台灌入的测试激励下进行测试，产生输出值；

测试机台，用于执行上述权利要求1至5任一项所述CP/FT测试方法的步骤。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5任一项所述CP/FT测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述CP/FT测试方法的步骤。