[发明专利]一种CP/FT测试方法、装置、系统、电子设备和介质

说明书

本申请公开了一种CP/FT测试方法，包括：根据SPI时序图，生成测试激励；将测试激励通过SPI接口灌入测试芯片；获取测试芯片在测试激励下的输出值；根据输出值，确定测试芯片是否合格。该方法能够大大节约测试时间，减少测试成本，避免了相关技术中采用串口协议进行CP/FT测试，由于传输频率低，导致测试成本较大的缺陷。本申请同时还提供了一种CP/FT测试装置、系统、电子设备和计算机可读存储介质，具有上述有益效果。

技术领域

本申请涉及CP/FT测试技术领域，特别涉及一种CP/FT测试方法、装置、系统、电子设备和计算机可读存储介质。

背景技术

芯片在制造及封装过程中，由于许多因素造成，并不是每颗芯片都是正确功能的电路。CP测试阶段就是在芯片封装前尽量把坏的芯片筛选出来，减少封装费用，尽可能只选择那些对良率影响较大的测试项，测试难度大，成本高但fail率不高的测试项，可放到FT阶段再测试，这些项在CP阶段测试意义不大，只会增加测试的成本；FT测试阶段是在芯片封装后，CP测试成功，但CP阶段未进行的项进行测试。

相关技术中，采用基于串口协议更新芯片FT测试程序，由于串口协议最快的波特率为921600b/s，传输频率还是KHz级别，速度非常的低，这对测试成本是一大冲击，因为CP/FT的测试是按秒级收费的，测试时间长，测试成本增加，导致芯片总的生成成本加大，芯片利润降低。

发明内容

本申请的目的是提供一种CP/FT测试方法，能够大大节约测试时间，减少测试成本。其具体方案如下：

第一方面，本申请公开了一种CP/FT测试方法，包括：

根据SPI时序图，生成测试激励；

将所述测试激励通过SPI接口灌入测试芯片；

获取所述测试芯片在所述测试激励下的输出值；

根据所述输出值，确定所述测试芯片是否合格。

可选的，获取所述测试芯片在所述测试激励下的输出值，包括：

利用所述SPI接口解析所述测试激励，确定所述测试芯片中进行测试的目标测试IP；

获取所述目标测试IP的输出值。

可选的，获取所述目标测试IP的输出值，包括：

测量所述目标测试IP对应引脚的输出值，或读取所述目标测试IP的寄存器的状态值，将所述状态值作为所述输出值。

可选的，在根据SPI时序图，生成测试激励之前，还包括：

设置所述SPI接口的数据传输格式中每次读写的数据字节数等于所述目标测试IP的寄存器的比特数。

可选的，根据所述输出值，确定所述测试芯片是否合格，包括：

将所述输出值与所述测试激励下的预设期望值进行比对；

若相同，则确定所述测试芯片合格；

若不相同，则确定所述测试芯片不合格。

第二方面，本申请公开了一种CP/FT测试装置，包括：

生成模块，用于根据SPI时序图，生成测试激励；

灌入模块，用于将所述测试激励通过SPI接口灌入测试芯片；

获取模块，用于获取所述测试芯片在所述测试激励下的输出值；

确定模块，用于根据所述输出值，确定所述测试芯片是否合格。

可选的，所述获取模块，包括：