[发明专利]一种2DWS2有效

专利信息
申请号: 202110391226.9 申请日: 2021-04-12
公开(公告)号: CN113224198B 公开(公告)日: 2022-07-26
发明(设计)人: 王文樑;李国强;苏柏煜;林正梁;柴吉星;孔德麒;汪祥瑞 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L31/109 分类号: H01L31/109;H01L31/0336;H01L31/0352;H01L31/0224;H01L31/18
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 何淑珍;江裕强
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
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【说明书】:

发明公开了一种2D WS2/InGaN II型异质结自驱动蓝光探测器及其制备方法与应用;该蓝光探测器由下至上依次包括:Si衬底层、AlN/AlGaN缓冲层、u‑GaN缓冲层、InGaN层;所述InGaN层上有SiO2窗口层、2D WS2层、第一金属电极;所述2D WS2层上有第二金属电极。本发明通过在InGaN层上引入2D WS2层,利用2D WS2材料禁带宽度为2eV及其能带结构特点,能够与InGaN层实现II型异质结结构,在界面上形成内建电场,电子将向2D WS2层迁移,空穴将向InGaN层迁移,完成光生载流子的有效分离和传输,产生更大光电流,实现了自驱动、高响应蓝光探测器。

技术领域

本发明涉及蓝光探测器领域,具体涉及一种2D WS2/InGaN II型异质结自驱动蓝光探测器及其制备方法与应用。

背景技术

III族氮化物半导体材料拥有优良的光学、电学、热学、化学、机械性能,目前,Ⅲ族氮化物光电器件和功率器件也得到了广泛研究。作为第三代半导体材料研究热点之一的InGaN材料电子迁移率高、热稳定性好、化学稳定性好。并且可通过调整合金中In的组分,实现禁带宽度从3.4eV到0.7eV的连续调节,从而使得InGaN光电测器能够覆盖整个可见光波段,相比传统探测器具有体积小、易携带、易集成、工作电压低、节能环保、无需滤光系统等优势,但同时也存在相分离导致的制备困难、器件响应度低等问题。

近年来,继石墨烯后,二维材料逐渐得到发掘,其层厚仅为几个原子层,同时相比于体材料具有优异的电学、光学、机械性能,因此在催化、微电子、离子储存、光电子学领域的巨大潜力得到了研究发展。

有研究人员采用GaN/InGaN多量子阱材料制备的蓝光探测器,响应时间为 300ms,暗电流为10-7A,在5V电压下,峰值响应度达到0.35A/W的响应度。但由于材料表面存在悬挂键,器件暗电流仍较高。其次,该探测器需要外加电源才可以进行工作。相比之下,为了解决以上不足,本发明通过引入缓冲层提升InGaN材料质量,通过采用2D WS2材料与InGaN功能层形成II型异质结结构,从而获得器件自驱动效应,大幅提升器件的响应度及灵敏度,同时由于二维生长材料表面无悬挂键,降低了暗电流,使得二维材料与传统研究材料相结合,获得了高性能水平的创新型器件。

发明内容

为了克服现有技术的上述缺点与不足,本发明的目的在于提供2D WS2/InGaN II型异质结自驱动蓝光探测器及其制备方法与应用,所述蓝光探测器具有生长InGaN薄膜质量好,器件获得自驱动性能,具有外量子效率高,响应速度快和灵敏度高等优点。

由于InGaN材料自身容易发生相分离,采用MOCVD方法在AlN/AlGaN缓冲层、u-GaN缓冲层上生长InGaN薄层,通过沉积2D WS2层后转移2D WS2至InGaN层制备II型异质结结构蓝光探测器具有以下突出优势;一、MOCVD 适合大面积材料生长,可获得大面积InGaN薄膜;二、采用缓冲层结构,降低晶格失配,且InGaN为薄层,可降低相分离,可提升InGaN薄膜质量;三、设计II型异质结结构,通过内建电场使器件获得自驱动能力,同时大幅提升器件响应度、灵敏度等参数,从而获得高性能蓝光探测器。

本发明的目的通过以下技术方案实现。

一种2D WS2/InGaN II型异质结自驱动蓝光探测器,由下至上依次包括:Si 衬底层、AlN/AlGaN缓冲层、u-GaN缓冲层、InGaN层;所述InGaN层上有 SiO2窗口层、2D WS2层、第一金属电极;所述2D WS2层上有第二金属电极。

优选的,所述Si衬底的厚度为420~430μm;

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