[发明专利]一种偏光膜卷材良率的模拟方法

权利要求书

1.一种偏光膜卷材良率的模拟方法，所述模拟方法纵贯偏光膜的生产流程，包括膜预处理后在延伸站进行的拉伸与复合、在涂布站进行的涂布与复合、最后的卷材裁切，所述模拟方法的特征在于，包括如下步骤：

S1.自动光学检测系统检测卷材：使用自动光学检测系统对生产的偏光膜卷材进行实时在线检测，获取缺点数据，并将缺点数据上传保存；

S2.预处理缺点数据：获取S1中的缺点数据，整理获得缺点数据表，所述缺点数据表包括卷材的管理号、幅宽，所述缺点数据表包括缺点的长、宽、面积大小、缺点类型、缺点位置、缺点属性、在整张缺点显示图上的轴坐标，所述缺点类型包括泡、异物、凹凸、歪点、刮伤；

S3.设置模拟参数：根据不同产品料号选择不同的缺点筛选规则，依据缺点的分布情况，规避缺点爆量区域；在涂布站生产流程中，对规格外的缺点进行喷印标记，根据带有缺点的喷印标记来模拟得出数据；

S4.计算良率：以卷材纵向零点为裁切起始边，将不良的片材与合格的片材及总片数筛选出来，并计算各裁切尺寸良率和总良率；提取模拟良率与实际良率之间的误差超过5％的缺点数据，手动筛选卡控参数，通过不断的加严或者放宽卡控参数直至模拟良率与实际良率之间的误差值小于2％，以此次卡控参数作为下一次生产的该料号的卡控参数的参考；

S5.数据汇总输出：将计算出的数据汇总成良率数据表。

2.根据权利要求1所述的一种偏光膜卷材良率的模拟方法，其特征在于：步骤S1中，自动光学检测系统采用不同的检测方式，检出卷材的缺点，通过设定不同标准的卡控参数将各个缺点分类判断规格内或规格外缺点，并将规格外缺点判定为不良缺点。

3.根据权利要求1所述的一种偏光膜卷材良率的模拟方法，其特征在于：步骤S1中，自动光学检测系统不断地实时检测生产状况，一个批次的卷材生产结束后将检测得到的缺点数据汇总，所述汇总的缺点数据存储在单独的工业网盘内。

4.根据权利要求1所述的一种偏光膜卷材良率的模拟方法，其特征在于：步骤S1中，自动光学检测系统直接获取延伸站缺点数据，涂布站缺点数据由喷印系统汇整上传后获取。

5.根据权利要求4所述的一种偏光膜卷材良率的模拟方法，其特征在于：步骤S1中，涂布站的喷印系统会对不合格的缺点进行喷印标记，模拟裁切时将带有喷印标记坐标的片材判定为不合格片材。

6.根据权利要求1所述的一种偏光膜卷材良率的模拟方法，其特征在于：步骤S3中，设置模拟参数时，通过自动选边功能规避缺点爆量区域，根据缺点数据表，设定所要裁切的片材的长宽，根据上片或下片来排布长宽方向，智能选定裁切边侧标准为左侧、居中或右侧。

7.根据权利要求1所述的一种偏光膜卷材良率的模拟方法，其特征在于：步骤S3中，设置模拟参数时，自动光学检测系统上显示有缺点显示图，观察缺点显示图上缺点分布的位置，手动设置闪边距离规避缺点爆量的区域。

8.根据权利要求1所述的一种偏光膜卷材良率的模拟方法，其特征在于：步骤S3中，建立一个筛选结果与实际片状成品数据相匹配的数据库，根据缺点的匹配结果再优化筛选条件，随着筛选的次数跟缺点数量的增多，持续优化数据筛选的参数。

9.根据权利要求1所述的一种偏光膜卷材良率的模拟方法，其特征在于：步骤S4中，计算机自动计算延伸站良率，涂布站合并数据后由计算机自动计算良率，缺点爆量区域手动设置后计算良率。