[发明专利]一种偏光膜卷材良率的模拟方法

说明书

本发明提供一种偏光膜卷材良率的模拟方法，其主要用于生产偏光膜卷材时，通过自动光学检测系统生成的缺点数据，根据缺点在卷材的位置，缺点尺寸和严重度等模拟计算出特定裁切片材偏光片的良品率。本发明具有的有益效果为：自动模拟系统的良率准确度高，可根据模拟良率数据改善裁切方式，规避缺点分布较多的边侧，为后段物料处理提供闪边理论依据，有效提高实际产出的产品良率，同时与实际偏光膜的良率进行匹配，促进前后制程改善其制程工艺和操作手法，减少不必要的成品损失。

技术领域

本发明涉及良率模拟方法，尤其涉及一种偏光膜卷材良率的模拟方法。

背景技术

通常偏光膜在连续生产时，会由品质人员在卷首和卷末取样检测其中的缺点，根据设定的规则判定该卷是良品还是不良卷材。正常生产时每卷偏光膜收卷米数超过1000米，卷中物料缺点状况与卷首或卷末的物料状况并不一致，造成卷材到后制程裁切人工检验后统计的良率结果与品质人员判定结果存在差异，故这样的判定结果只能作为参考。

传统方法可以通过自动光学检测系统缺点显示图及平均缺点数来大致判定该卷物料状况，如LG化学专利CN0107074775B裁剪产品的生产方法及生产系统中介绍了一种根据光学检测缺点显示图进行闪边的物料裁切方法，但该方法主要适用于连续缺点爆量的情况，无法与卷材良率进行对应。盛波光电专利CN201810446415一种连续生产卷状材料的良率预估方法中介绍了偏光膜特定角度裁切的良率模拟，但其仅仅只计算了卷材的良率数据，但未涉及裁切闪边和数据筛选等功能，以致卷材的利用率和良率模拟精度不高。因此，需要一种可以提高卷材的利用率、提高模拟精度的良率模拟方法。

发明内容

针对上述现有技术存在的不足，本发明提供一种偏光膜卷材良率的模拟方法，提高卷材的利用率和良率模拟精度。

本发明解决其技术问题所采取的技术方案为：

一种偏光膜卷材良率的模拟方法，所述模拟方法纵贯偏光膜的生产流程，包括膜预处理后在延伸站进行的拉伸与复合、在涂布站进行的涂布与复合、最后的卷材裁切，所述模拟方法包括如下步骤：

S1.自动光学检测系统检测卷材：使用自动光学检测系统对生产的偏光膜卷材进行实时在线检测，获取缺点数据，并将缺点数据上传保存；

S2.预处理缺点数据：获取S1中的缺点数据，整理获得缺点数据表；

S3.设置模拟参数：根据不同产品料号选择不同的缺点筛选规则，依据缺点的分布情况，规避缺点爆量区域；

S4.计算良率：以卷材纵向零点为裁切起始边，将不良的片材与合格的片材及总片数筛选出来，并计算各裁切尺寸良率和总良率；

S5.数据汇总输出：将计算出的数据汇总成良率数据表。

具体地，步骤S1中，自动光学检测系统采用不同的检测方式，检出卷材的缺点，通过设定不同标准的卡控参数将各个缺点分类判断规格内或规格外缺点，并将规格外缺点判定为不良缺点。

具体地，步骤S1中，自动光学检测系统不断地实时检测生产状况，一个批次的卷材生产结束后将检测得到的缺点数据汇总，所述汇总的缺点数据存储在单独的工业网盘内。

具体地，步骤S1中，自动光学检测系统直接获取延伸站缺点数据，涂布站缺点数据由喷印系统汇整上传后获取。

具体地，步骤S1中，涂布站的喷印系统会对不合格的缺点进行喷印标记，模拟裁切时将带有喷印标记坐标的片材判定为不合格片材。

具体地，步骤S3中，设置模拟参数时，通过自动选边功能规避缺点爆量区域，根据缺点数据表，设定所要裁切的片材的长宽，根据上片或下片来排布长宽方向，智能选定裁切边侧标准为左侧、居中或右侧。