[发明专利]一种集成IC检测系统有效
申请号: | 202110406398.9 | 申请日: | 2021-04-15 |
公开(公告)号: | CN112974284B | 公开(公告)日: | 2022-12-27 |
发明(设计)人: | 胡冬 | 申请(专利权)人: | 四川明泰微电子有限公司 |
主分类号: | B07C5/02 | 分类号: | B07C5/02;B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38 |
代理公司: | 成都诚中致达专利代理有限公司 51280 | 代理人: | 曹宇杰 |
地址: | 641100 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成 ic 检测 系统 | ||
1.一种集成IC检测系统,包括沿工作台(100)的轨道槽(103)输送方向依次设置的边框检测机构(600)、缺陷检测机构(800),轨道槽(103)内设有传送带(400),传送带(400)用于输送集成IC塑封框架(901),其特征在于:
边框检测机构(600)有一对,相对设置设于轨道槽(103)内壁,用于检测由传送带(400)输送的集成IC塑封框架(901)的边框断裂缺陷;
缺陷检测机构(800)包括:定位机构、缺陷检测组件(810)、缺陷传感器(807);
定位机构设于工作台(100),用于将输送的集成IC塑封框架(901)定位于缺陷检测机构(800)的检测工位;
缺陷检测组件(810)有多个,线性阵列于架体(803)上,架体(803)设于工作台(100)上,并位于轨道槽(103)一侧;缺陷检测组件(810)包括通过架体转轴(806)转动设于架体(803)的缺陷转杆(812)以及与缺陷转杆(812)上端连接的第二弹簧(813),第二弹簧(813)另一端连接在架体(803)上,缺陷转杆(812)下端转动连接有缺损检测轮(811),缺陷转杆(812)上部设有透光孔(814);
缺陷传感器(807)有一对,匹配使用,设于架体(803)上,分别位于架体(803)的两端,缺陷检测组件(810)位于缺陷传感器(807)之间,其中一个缺陷传感器(807)用于发射信号,另一个缺陷传感器(807)用于接收信号。
2.根据权利要求1所述的集成IC检测系统,其特征在于,边框检测机构(600)包括:
轮座(601);
一对上压轮(620),转动设于轮座(601)朝向另一个边框检测机构(600)的一面,一对上压轮(620)间隔设置;
一对动力轮(610),转动设于轮座(601),并与上压轮(620)同处于轮座(601)同一面,一对动力轮(610)间隔设置,一对动力轮(610)分别对应位于一对上压轮(620)下方;
边框检测轮(630),与上压轮(620)、动力轮(610)同处于轮座(601)同一面,边框检测轮(630)位于一对上压轮(620)和一对动力轮(610)的中间区域;
第二转动杆(634),通过穿设于轮座(601)的轮座转轴(632)转动设于轮座(601)的通槽(631),通槽(631)贯穿轮座(601)两面,第二转动杆(634)一端连接边框检测轮(630),另一端伸出至轮座(601)另一面预定长度;
接近传感器(633),设于轮座(601)另一面,接近传感器(633)的感应点朝向第二转动杆(634)伸出于轮座(601)的部段。
3.根据权利要求2所述的集成IC检测系统,其特征在于,动力轮(610)的边缘与上压轮(620)边缘具有预定间距,所述预定间距与集成IC塑封框架(901)的边框厚度匹配;沿输送方向,用于先接触集成IC塑封框架(901)的一个上压轮(620)、动力轮(610)的设置位置分别高于用于后接触集成IC塑封框架(901)的另一个上压轮(620)、动力轮(610)的设置位置。
4.根据权利要求2所述的集成IC检测系统,其特征在于,边框检测机构(600)还包括电机(613),电机(613)为一个,连接其中一个边框检测机构(600)的其中一个动力轮(610),两个边框检测机构(600)之间设有传力杆(612),传力杆(612)将两个边框检测机构(600)的其中一个相对应的动力轮(610)连接,每个边框检测机构(600)的一对动力轮(610)之间通过履带(611)传动。
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