[发明专利]具有指定区域存储器访问调度的存储器系统

说明书

集成电路器件包括可耦合至存储器的存储器控制器。所述存储器控制器基于专用于区域的存储器时序参数，调度至所述存储器的所述区域的存储器访问。一种方法包括接收在存储器器件的存储器访问请求。所述方法还包括从所述存储器器件的时序数据存储访问表示专用于所述存储器访问请求针对的存储器单元电路的区域的存储器时序参数的数据。所述方法还包括在所述存储器控制器，基于所述数据调度所述存储器访问请求。

本申请是申请号为201380076650.8、申请日为2013年5月16日、发明名称为“具有指定区域存储器访问调度的存储器系统”的发明专利申请的分案申请。

发明背景

发明领域

本公开大致涉及存储器器件，并且更具体地涉及调度用于存储器器件的存储器访问。

背景技术

存储器延迟和带宽是许多处理系统中的显著性能瓶颈。这些性能因素通常受存储器单元访问时间和遍历存储器内各个互连件的信号的传播延迟的影响。在常规的存储器控制器具体实施中，采用调度访问存储器子系统的存储器的最坏情况下的方法，存储器控制器由此假设应用于整个存储器子系统的固定的最坏情况下存储器时序参数。

附图简述

通过参考附图，将更好理解本公开，并且本公开的多个特征和优点对于本领域的技术人员来说是显而易见的。在不同附图中使用相同参考标号指示类似或相同的项。

图1是示出根据一些实施例的采用具有指定区域存储器访问调度的存储器的示例处理系统的示图。

图2是示出根据一些实施例的图1的处理系统的示例垂直堆叠式裸片具体实施的分解透视图的示图。

图3是示出根据一些实施例的图1的处理系统的另一示例垂直堆叠式裸片实施的分解透视图的示图。

图4是示出根据一些实施例的采用时序剖析器的示例存储器控制器的示图。

图5是示出根据一些实施例用于剖析存储器的存储器时序参数的方法的流程图。

图6是示出根据一些实施例基于指定区域存储器时序参数调度存储器范围的过程的时序图。

图7是示出根据一些实施例用于设计和制造集成电路(IC)器件的流程图，所述IC器件实现基于指定区域存储器时序参数调度存储器访问的存储器控制器。

具体实施方式

图1-7示出通过使用基于指定区域存储器时序参数的存储器访问调度，减少延迟并提高处理系统或其他电子装置的存储器子系统的带宽和功率效率的示例技术。各个因素，诸如半导体制造工艺、器件温度和老化效应会致使存储器访问不同存储器区域的存储器单元访问时间和信号传播时间明显改变，这在当为了降低功耗的目的电源电压缩小至晶体管阈值电压(Vth)电平时变得特别有害。在常规系统中，这些性能变化通常通过选择基于最坏情形下的保守的时序参数并使用这些相同的用于每个存储器访问的保守时序参数来管理，不管该区域是否是存储器访问的目标。相反，在一些实施例中，存储器控制器通过剖析用于存储器的多个区域的每个区域的一个或多个存储器时序参数、将测得的时序参数保存至时序数据存储并随后基于所剖析的与是存储器访问目标的区域相关联的指定区域存储器时序参数调度存储器访问来有效调度存储器访问。因此，存储器控制器可以通过利用不同区域之间的性能变化来减少延迟并提高存储器子系统的功率效率，使得存储器访问的时序和序列反映由不同存储器区域展现的不同存储器时序。所剖析存储器的颗粒度可以包括例如一个或多个单元、行、组、级、芯片、存储器模块(例如，双列直插内存模块或“DIMMS”)、沟道等的集合。