[发明专利]一种校正机械偏差的方法和系统

说明书

本说明书实施例提供了一种校正机械偏差的方法和系统。包括获取参考对象的第一投影数据和第二投影数据，第一投影数据是基于待校正设备得到的投影数据，待校正设备包括机械偏差，第一投影数据包括对应机械偏差的偏差投影数据；第二投影数据不包括偏差投影数据；以第一投影数据和第二投影数据作为训练样本，对初始辅助模型进行训练得到辅助模型，辅助模型包括至少一个卷积层，至少一个卷积层中的每一个卷积层包括至少一个候选卷积核；基于辅助模型的至少一个候选卷积核确定目标卷积核；基于目标卷积核确定待校正设备的机械偏差信息，机械偏差信息用于校正待校正设备的机械偏差或偏差投影数据。

技术领域

本申请涉及扫描设备以及计算机技术领域，特别涉及一种校正机械偏差的方法和系统。

背景技术

在射线扫描设备例如X光扫描设备、CT设备、PET-CT设备、激光扫描设备等的使用中，为了达到理想的成像效果，需要根据设计的理想位置安装扫描设备。但是扫描设备的实际安装位置与理想位置可能存在偏差(也称为机械偏差)，例如探测器的实际安装位置、实际安装后的射线源(例如，球管)的焦点位置等与设计的理想位置可能有偏差。带有机械偏差的设备扫描得到的扫描数据可能会受到机械偏差的影响，使得成像质量不好，达不到理想效果。

因此，亟需一种校正机械偏差的方法和系统。

发明内容

本说明书一个方面提供一种校正机械偏差的方法。所述方法包括：获取参考对象的第一投影数据，所述第一投影数据是基于待校正设备得到的投影数据，所述待校正设备包括机械偏差，所述第一投影数据包括对应所述机械偏差的偏差投影数据；获取所述参考对象的第二投影数据，所述第二投影数据不包括所述偏差投影数据；以所述第一投影数据和所述第二投影数据作为训练样本，对初始辅助模型进行训练得到辅助模型，所述辅助模型包括至少一个卷积层，所述至少一个卷积层中的每一个卷积层包括至少一个候选卷积核；基于所述辅助模型的所述至少一个候选卷积核确定目标卷积核；基于所述目标卷积核确定所述待校正设备的机械偏差信息，所述机械偏差信息用于校正所述待校正设备的所述机械偏差或所述偏差投影数据。

本说明书另一个方面提供一种校正机械偏差的系统。所述系统包括：获取模块：用于获取参考对象的第一投影数据，所述第一投影数据是基于待校正设备得到的投影数据，所述待校正设备包括机械偏差，所述第一投影数据包括对应所述机械偏差的偏差投影数据；获取所述参考对象的第二投影数据，所述第二投影数据不包括所述偏差投影数据；模型确定模块：以所述第一投影数据和所述第二投影数据作为训练样本，对初始辅助模型进行训练得到辅助模型，所述辅助模型包括至少一个卷积层，所述至少一个卷积层中的每一个卷积层包括至少一个候选卷积核；卷积核确定模块；用于基于所述辅助模型的所述至少一个候选卷积核确定目标卷积核；机械偏差确定模块：用于基于所述目标卷积核确定所述待校正设备的机械偏差信息，所述机械偏差信息用于校正所述待校正设备的所述机械偏差或所述偏差投影数据。

本说明书另一个方面提供一种校正机械偏差的装置，包括处理器，所述处理器用于执行校正机械偏差的方法。

本说明书另一个方面提供计算机可读存储介质，所述存储介质存储计算机指令，当计算机读取存储介质中的计算机指令后，计算机执行校正机械偏差的方法。

附图说明

本说明书将以示例性实施例的方式进一步说明，这些示例性实施例将通过附图进行详细描述。这些实施例并非限制性的，在这些实施例中，相同的编号表示相同的结构，其中：

图1是根据本说明书一些实施例所示的校正机械偏差的系统的应用场景示意图；

图2是根据本说明书的一些实施例所示的示例性校正机械偏差的系统的模块图；

图3是根据本说明书一些实施例所示的校正机械偏差的方法的示例性流程图；

图4是根据本说明书一些实施例所示的基于目标卷积核确定待校正设备的机械偏差信息的方法的示例性流程图；