[发明专利]数据处理方法、装置、扫描仪标定系统和扫描仪标定方法有效

专利信息
申请号: 202110423118.5 申请日: 2021-04-20
公开(公告)号: CN113218417B 公开(公告)日: 2022-12-09
发明(设计)人: 郑俊;周国勇 申请(专利权)人: 杭州思锐迪科技有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01B11/00
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 李洋
地址: 311100 浙江省杭州市余杭区*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 数据处理 方法 装置 扫描仪 标定 系统
【权利要求书】:

1.一种数据处理方法,用于对扫描仪进行标定,其特征在于,所述方法包括:

获取标定物在世界坐标系下,标准温度下的第三位置特征;

获取所述标定物的热膨胀比例系数,和环境温度与所述标准温度之间的温差,根据所述热膨胀比例系数、所述温差以及所述第三位置特征,得到所述标定物在所述世界坐标系下,在所述环境温度下,发生温度形变后的第一位置特征;

获取所述标定物在像素坐标系下,在所述环境温度下发生温度形变后的第二位置特征;

根据所述第一位置特征和所述第二位置特征,计算所述扫描仪的标定参数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述热膨胀比例系数、所述温差以及所述第三位置特征,得到所述标定物在所述世界坐标系下,在所述环境温度下,发生温度形变后的第一位置特征,包括:

根据所述热膨胀比例系数和所述环境温度与所述标准温度之间的温差,得到所述标定物在所述环境温度下的位置变化关系,根据所述位置变化关系和所述第三位置特征,得到所述第一位置特征。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一位置特征和所述第二位置特征,计算所述扫描仪的标定参数,包括:

获取多组所述标定物的第一位置特征和第二位置特征;

将多组所述第一位置特征和第二位置特征,输入扫描仪标定模型中,得到所述标定参数。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述获取所述标定物在像素坐标系下,在所述环境温度下发生温度形变后的第二位置特征,为在所述环境温度下对所述标定物进行多角度成像,获得所述标定物在所述像素坐标系下,发生温度形变后的多组第二位置特征。

5.一种数据处理装置,用于对扫描仪进行标定,其特征在于,包括第一获取模块、第二获取模块和标定模块;

所述第一获取模块,用于获取标定物在世界坐标系下,标准温度下的第三位置特征;获取所述标定物的热膨胀比例系数,和环境温度与所述标准温度之间的温差,根据所述热膨胀比例系数、所述温差以及所述第三位置特征,得到所述标定物在所述世界坐标系下,在所述环境温度下,发生温度形变后的第一位置特征;

所述第二获取模块,用于获取所述标定物在像素坐标系下,在所述环境温度下发生温度形变后的第二位置特征;

所述标定模块,用于根据所述第一位置特征和所述第二位置特征,计算所述扫描仪的标定参数。

6.一种扫描仪标定系统,其特征在于,所述系统包括标定物、扫描仪、温度传感器、以及权利要求5所述的数据处理装置,其中:

所述标定物上设置有若干特征点;

所述温度传感器用于获取环境温度,并将所述环境温度以信号的形式传输至所述数据处理装置;

所述扫描仪用于对所述标定物进行成像,以获得像素坐标系下,所述标定物在所述环境温度下发生温度形变后,所述若干特征点的第二位置特征,并将所述第二位置特征传输至所述数据处理装置。

7.根据权利要求6所述的扫描仪标定系统,其特征在于:

所述温度传感器设置于所述标定物上,用于获取所述标定物的环境温度;

所述数据处理装置还用于获取所述标定物的热膨胀比例系数,并接收所述温度传感器获取的所述环境温度。

8.根据权利要求6或7中任一项所述的扫描仪标定系统,其特征在于,所述标定物为标定板,所述第二位置特征为所述标定板在所述像素坐标系下,在所述环境温度下发生温度形变后的第二三维坐标。

9.根据权利要求6或7中任一项所述的扫描仪标定系统,其特征在于,所述标定物为标定杆,所述标定杆上设置有若干特征点,所述第二位置特征为所述标定杆在所述像素坐标系下,在所述环境温度下发生温度形变后,所述若干特征点之间的第二距离。

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