[发明专利]数据处理方法、装置、扫描仪标定系统和扫描仪标定方法

说明书

本申请提供一种数据处理方法、装置、扫描仪标定系统和扫描仪标定方法，通过获取标定物在世界坐标系下，在环境温度下发生温度形变后的第一位置特征，获取标定物在像素坐标系下，在环境温度下发生温度形变后的第二位置特征，并根据第一位置特征和第二位置特征，计算扫描仪的标定参数，能够在扫描仪扫描的过程中，获取标定物在像素坐标系下受温度影响发生形变后准确的位置特征，从而提高了在温度形变的影响下，扫描仪标定的准确度。

技术领域

本申请涉及摄影测量技术领域，特别是涉及一种数据处理方法、装置、扫描仪标定系统和扫描仪标定方法。

背景技术

在摄影测量领域，扫描仪标定能够确定被测物体在物理尺寸与像素尺寸之间的换算关系，从而校正扫描仪的畸变，提高摄影测量结果的精度。目前，扫描仪标定过程一般通过获取被测物体的像素尺寸，直接根据像素尺寸和已知的物理尺寸来计算该换算关系，在这种方式下，被测物体易受到温度影响发生形变，从而使得扫描仪获取的像素尺寸不准确，对扫描仪标定造成影响，最终影响摄影测量的精度。

针对目前无法克服被测物体的温度形变影响扫描仪标定的准确度的问题，尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种数据处理方法、装置、扫描仪标定系统和扫描仪标定方法，以至少解决相关技术中存在的无法克服被测物体的温度形变影响相机标定的准确度的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种数据处理方法，用于对扫描仪进行标定，所述方法包括：

获取标定物在世界坐标系下，在环境温度下发生温度形变后的第一位置特征；

获取所述标定物在像素坐标系下，在所述环境温度下发生温度形变后的第二位置特征；

根据所述第一位置特征和所述第二位置特征，计算所述扫描仪的标定参数。

在其中一些实施例中，所述获取标定物在世界坐标系下，在环境温度下发生温度形变后的第一位置特征，包括：

获取所述标定物在所述世界坐标系下，标准温度下的第三位置特征；

获取所述标定物的热膨胀比例系数，和所述环境温度与所述标准温度之间的温差，根据所述热膨胀比例系数、所述温差以及所述第三位置特征，得到所述标定物在所述世界坐标系下，在所述环境温度下，发生温度形变后的第一位置特征。

在其中一些实施例中，所述根据所述热膨胀比例系数、所述温差以及所述第三位置特征，得到所述标定物在所述世界坐标系下，在所述环境温度下，发生温度形变后的第一位置特征，包括：

根据所述热膨胀比例系数和所述环境温度与所述标准温度之间的温差，得到所述标定物在所述环境温度下的位置变化关系，根据所述位置变化关系和所述第三位置特征，得到所述第一位置特征。

在其中一些实施例中，所述根据所述第一位置特征和第二位置特征，计算所述扫描仪的标定参数，包括：

获取多组所述标定物的第一位置特征和第二位置特征；

将多组所述第一位置特征和第二位置特征，输入扫描仪标定模型中，得到所述标定参数。

在其中一些实施例中，所述获取所述标定物在像素坐标系下，在所述环境温度下发生温度形变后的第二位置特征，为在所述环境温度下对所述标定物进行多角度成像，获得所述标定物在所述像素坐标系下，发生温度形变后的多组第二位置特征。

第二方面，本申请实施例提供了一种数据处理装置，用于对扫描仪进行标定，包括第一获取模块、第二获取模块和标定模块；

所述第一获取模块，用于获取标定物在世界坐标系下，在环境温度下发生温度形变后的第一位置特征；