[发明专利]一种金属件外观自动检测设备及检测方法有效

专利信息
申请号: 202110423575.4 申请日: 2021-04-20
公开(公告)号: CN112986265B 公开(公告)日: 2021-08-03
发明(设计)人: 胡彦潮;许朋飞;余太平 申请(专利权)人: 深圳市罗博威视科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/94;G01B11/30;B07C5/342
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 朱阳波
地址: 518107 广东省深圳市光明*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 金属件 外观 自动检测 设备 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种金属件外观自动检测设备,其特征在于,包括:

机架;

碟盘上料装置,所述碟盘上料装置包括设置于所述机架上的满料碟盘上料机构、上料分盘机构、上料碟盘X轴位移机构、空料碟盘下料机构和上料YZ双轴真空取放料机构;

若干检测工位,所述检测工位设置于所述机架上,所述检测工位设置有检测相机、检测光源和棱镜;

中转翻转位移机构,所述中转翻转位移机构包括设置于所述机架上的Y轴中转组件、Z轴旋转取料组件、翻转组件和下料Y轴组件;

碟盘下料装置,所述碟盘下料装置包括设置于所述机架上的空碟盘上料机构、下料分盘机构、下料YZ双轴真空取放料机构、下料碟盘X轴位移机构和满碟盘下料机构;

其中,所述检测相机、检测光源和棱镜之间的相对角度可调节,所述碟盘上料装置和所述碟盘下料装置还包括若干碟盘,所述碟盘上设置有若干与所述金属件相适配的载料室,所述碟盘上料装置和碟盘下料装置分别设置于所述机架沿Y轴方向上的两端;

所述金属件外观自动检测设备还包括:

控制组件,所述控制组件设置于所述机架上,所述控制组件包括:若干传感器,所述传感器设置于所述碟盘上料装置、检测工位、中转翻转位移机构和碟盘下料装置处;若干控制箱,所述控制箱设置于所述机架上,所述控制箱与所述碟盘上料装置、检测工位、中转翻转位移机构和碟盘下料装置电连接,且所述控制箱与所述传感器通讯连接;

角度调节机构,所述角度调节机构用于检测待检金属件形状,并自动调节所述检测相机、检测光源和棱镜的相对角度;

所述角度调节机构包括预检相机、控制器和角度调节组件;所述预检相机设置于所述碟盘上料装置处,用于获取所述碟盘中的待检金属件的外观形状,并传输至所述控制器;所述控制器控制所述角度调节组件运行,调节所述检测相机、检测光源和棱镜之间的相对位置关系;

所述金属件包括:本体,以及垂直设置于所述本体上且依次连接的第一侧壁、第二侧壁、第三侧壁和第四侧壁,所述第四侧壁上设置有缺口,所述本体上设置有A面和F面,所述第一侧壁上设置有B面和G面,所述第二侧壁上设置有E面和J面,所述第三侧壁上设置有D面和I面,所述第四侧壁上设置有C面和H面,其中,所述A面、B面、E面、D面和C面为所述金属件的外表面,所述F面、G面、J面、I面和H面为所述金属件的内表面;

所述检测工位包括沿Y轴方向上依次设置的第一检测工位、第二检测工位和第三检测工位,且所述第一检测工位设置于靠近所述碟盘上料装置的一侧;其中,所述第一检测工位用于检测所述J面、H面、C面和E面,所述第二检测工位用于检测所述B面、D面、G面、I面和F面,所述第三检测工位用于检测所述A面;

所述第一检测工位包括:

第一检测组件,所述第一检测组件包括第一检测支架,以及设置于所述第一检测支架上的第一面阵相机、第一线光源和第一棱镜,其中,所述第一棱镜沿Z轴方向设置于所述第一面阵相机的下方;

第二检测组件,所述第二检测组件包括第二检测支架,以及设置于所述第二检测支架上的第二面阵相机、第二线光源和第二棱镜,其中,所述第二棱镜沿Z轴方向设置于所述第二面阵相机的下方;

第三检测组件,所述第三检测组件包括第三检测支架,以及设置于所述第三检测支架上的第三面阵相机、第三线光源和第三棱镜,其中,所述第三棱镜沿Z轴方向设置于所述第三面阵相机的下方;

第四检测组件,所述第四检测组件包括第四检测支架,以及设置于所述第四检测支架上的第四面阵相机、第四线光源和第四棱镜,其中,所述第四棱镜沿Z轴方向设置于所述第四面阵相机的下方;

所述第二检测工位包括:

第五检测组件,所述第五检测组件包括第五检测支架,以及设置于所述第五检测支架上的第五面阵相机、第五线光源和第五棱镜,其中,所述第五棱镜沿Z轴方向设置于所述第五面阵相机的下方;

第六检测组件,所述第六检测组件包括第六检测支架,以及设置于所述第六检测支架上的第六面阵相机、第六线光源和第六棱镜,其中,所述第六棱镜沿Z轴方向设置于所述第六面阵相机的下方;

第七检测组件,所述第七检测组件包括第七检测支架,以及设置于所述第七检测支架上的第七面阵相机、第七线光源和第七棱镜,其中,所述第七棱镜沿Z轴方向设置于所述第七面阵相机的下方;

第八检测组件,所述第八检测组件包括第八检测支架,以及设置于所述第八检测支架上的第八面阵相机、第八线光源和第八棱镜,其中,所述第八棱镜沿Z轴方向设置于所述第八面阵相机的下方;

第九检测组件,所述第九检测组件包括第九检测支架,以及设置于所述第九检测支架上的第九面阵相机、第九线光源和第十线光源;

所述第三检测工位包括:

第十检测组件,所述第十检测组件包括第十检测支架,以及设置于所述第十检测支架上的第十线扫相机、第十一线光源和第十二线光源;

第十一检测组件,所述第十一检测组件包括第十一检测支架,以及设置于所述第十一检测支架上的第十一线扫相机、第十三线光源和第十四线光源;

第十二检测组件,所述第十二检测组件包括第十二检测支架,以及设置于所述第十二检测支架上的第十二面阵相机、第十五线光源和第十六线光源;

所述Y轴中转组件包括第一Y轴丝杆导轨、第二Y轴丝杆导轨、第一物料载具和第二物料载具;所述第一Y轴丝杆导轨和第二Y轴丝杆导轨沿Y轴方向设置于所述机架上,所述第一物料载具滑动设置于所述第一Y轴丝杆导轨上,所述第二物料载具滑动设置于所述第二Y轴丝杆导轨上,其中,所述第一物料载具和第二物料载具上都设置有Z轴升降平台,以及若干设置于所述Z轴升降平台上的真空吸附平台,所述真空吸附平台上设置有与金属件适配的吸附腔;

所述Z轴旋转取料组件设置于所述第一检测工位和第二检测工位之间,且所述Z轴旋转取料组件位于所述第一Y轴丝杆导轨的一侧,所述Z轴旋转取料组件包括Z轴滑动平台,以及设置于所述Z轴滑动平台上的取料旋转传动件和若干真空旋转吸嘴,所述取料旋转传动件与所述真空旋转吸嘴连接,所述真空旋转吸嘴上设置有与所述金属件适配的真空吸附部;

所述翻转组件包括Z轴升降翻转支架,设置于所述Z轴升降翻转支架上的翻转传动件,以及设置于所述翻转传动件上的若干翻转真空吸嘴,其中,所述翻转真空吸嘴上设置有与所述金属件适配的翻转吸附部;

所述下料Y轴组件包括下料Y轴导轨,以及设置于所述下料Y轴导轨上的Y轴下料载具;所述Y轴下料载具包括下料载具支架,设置于所述下料载具支架上的下料旋转传动件,以及与所述下料旋转传动件连接的下料真空吸嘴,其中所述翻转真空吸嘴上设置有与所述金属件适配的下料吸附部;

其中,所述翻转组件设置有两组,一组设置于所述第一Y轴丝杆导轨和第二Y轴丝杆导轨之间,另一组设置于所述第二Y轴丝杆导轨与所述下料Y轴组件之间;

所述第一检测组件用于检测所述J面,所述第二检测组件用于检测所述H面,所述第三检测组件用于检测所述C面,所述第四检测组件用于检测所述E面,所述第五检测组件用于检测所述B面,所述第六检测组件用于检测所述D面,所述第七检测组件用于检测所述G面,所述第八检测组件用于检测所述I面,所述第九检测组件用于检测所述F面,所述第十检测组件、第十一检测组件和第十二检测组件用于检测所述A面;

所述第一检测组件、第三检测组件、第五检测组件和第七检测组件设置于所述第一Y轴丝杆导轨沿X轴方向的一侧;所述第二检测组件、第四检测组件、第六检测组件和第八检测组件设置于所述第一Y轴丝杆导轨沿X轴方向的另一侧;所述第九检测组件设置于所述第一Y轴丝杆导轨背离所述碟盘上料装置一端,且所述第九检测组件沿Z轴方向设置于所述第一Y轴丝杆导轨上端,所述第九线光源和第十线光源沿X轴方向设置于所述第一Y轴丝杆导轨的两侧;所述第十检测组件、第十一检测组件和第十二检测组件沿Y轴方向依次设置于所述第二Y轴丝杆导轨上端。

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