[发明专利]偏移状态测试方法、测试设备及存储介质

权利要求书

1.一种偏移状态测试方法，其特征在于，所述偏移状态测试方法包括以下步骤：

获取增强现实设备的第一投影光机对应的第一测试图像，其中，所述第一测试图像中包括第一投影光机投影的测试图案；

获取所述测试图像中的预设像素点的位置参数以及灰度值，并根据多个所述预设像素点的位置参数及灰度值确定所述测试图案对应的位置信息；

根据所述位置信息确定所述第一投影光机的偏移状态；

所述获取所述测试图像中的预设像素点的位置参数以及灰度值，并根据多个所述预设像素点的位置参数及灰度值确定所述测试图案对应的位置信息的步骤之前，还包括：

将第一预设区域内的第一像素列和第二像素列对应的像素点作为所述预设像素点；和/或，

将第二预设区域内的第一像素行和第二像素行对应的像素点作为所述预设像素点；

所述获取所述测试图像中的预设像素点的位置参数以及灰度值，并根据多个所述预设像素点的位置参数及灰度值确定所述测试图案对应的位置信息的步骤包括：

获取所述第一像素列以及所述第二像素列上的各个所述预设像素点的位置参数以及灰度值；

根据所述第一像素列上的各个所述预设像素点的位置参数以及灰度值确定所述测试图案对应的第一位置信息，以及根据所述第二像素列上的各个所述预设像素点的位置参数以及灰度值确定所述测试图案对应的第二位置信息；和/或，

根据所述第一像素行上的各个所述预设像素点的位置参数以及灰度值确定所述测试图案对应的第三位置信息，以及根据所述第二像素行上的各个所述预设像素点的位置参数以及灰度值确定所述测试图案对应的第四位置信息；

将灰度值最大的像素点的位置参数作为所述测试图案对应的所述第一位置信息和所述第二位置信息；和/或，将灰度值最大像素点的位置参数作为所述测试图案对应的所述第三位置信息和所述第四位置信息。

2.如权利要求1所述的偏移状态测试方法，其特征在于，所述测试图案为十字形图案，所述十字形图案包括水平方向上的第一轮廓和垂直方向上的第二轮廓。

3.如权利要求1所述的偏移状态测试方法，其特征在于，所述根据所述位置信息确定所述第一投影光机的偏移状态的步骤之前，还包括：

获取标准位置信息；

所述根据所述位置信息确定所述第一投影光机的偏移状态的步骤包括：

根据所述位置信息与所述标准位置信息之间的差异值，确定所述第一投影光机的偏移状态。

4.如权利要求3所述的偏移状态测试方法，其特征在于，所述获取标准位置信息的步骤包括：

获取预先保存的所述标准位置信息；或者，

获取所述增强现实设备的第二投影光机的投影位置信息，作为所述标准位置信息。

5.如权利要求1所述的偏移状态测试方法，其特征在于，所述根据所述位置信息确定所述第一投影光机的偏移状态的步骤之后，还包括：

根据所述偏移状态确定所述第一投影光机的调节参数；

输出所述调节参数；和/或，

将所述调节参数发送至调节设备，以供所述调节设备根据所述调节参数调节所述第一投影光机的安装位置。

6.如权利要求1所述的偏移状态测试方法，其特征在于，所述根据所述位置信息确定所述第一投影光机的偏移状态的步骤之后，还包括：

输出所述偏移状态。

7.一种测试设备，其特征在于，所述测试设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的偏移状态测试程序，所述偏移状态测试程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的偏移状态测试方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有偏移状态测试程序，所述偏移状态测试程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的偏移状态测试方法的步骤。