[发明专利]偏移状态测试方法、测试设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202110450740.5 申请日: 2021-04-25
公开(公告)号: CN113034585B 公开(公告)日: 2023-02-28
发明(设计)人: 徐振宾;徐瑞兵 申请(专利权)人: 歌尔光学科技有限公司
主分类号: G06T7/70 分类号: G06T7/70;G06T7/13
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 梁馨怡
地址: 261031 山东省潍坊市高新区清池街*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 偏移 状态 测试 方法 设备 存储 介质
【说明书】:

发明公开了一种偏移状态测试方法,测试设备及计算机可读存储介质。所述方法包括:获取增强现实设备的第一投影光机对应的第一测试图像,其中,所述第一测试图像中包括第一投影光机投影的测试图案;获取所述测试图像中的预设像素点的位置参数以及灰度值,并根据多个所述预设像素点的位置参数及灰度值确定所述测试图案对应的位置信息;根据所述位置信息确定所述第一投影光机的偏移状态。本发明旨在达成提高偏移测试的准确性的效果。

技术领域

本发明涉及增强现实设备制造技术领域,尤其涉及偏移状态测试方法、测试设备及计算机可读存储介质。

背景技术

随着科技的进步,AR(Augmented Reality,增强现实)技术发展的日益成熟。AR设备已经越来越普及。在相关技术中,为了使得用户可以基于AR设备看到虚拟信息,可以通过波导片将虚拟图像投影到人眼中。

在相关技术中,AR设备的左眼投影光机和右眼投影光机是独立设置的。为了在使用AR设备时,两眼看到的虚拟物体相对于同一实物的位置不会出现偏差,就要求AR设备在组装,调整好Light Engine(光机)与支架之间的位置关系。

在相关技术中,为了能准确的调整光机与支架之间的位置,需要先确定两个光机的投影偏移状态,一般可以通过摄像机拍摄包含投影出的测试图案和标靶图案的测试图像。但是由于投影光机的投影分辨率一般会低于摄像机的分辨率,导致测试图像中的多个像素点对应投影图像的一个像素点,而使得测试图像中的测试图形的线条轮廓较粗,无法确定测试图形线条轮廓的中心,从而无法准确地与标靶图像进行比对。这样存在测试结果不准确的缺陷。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种偏移状态测试方法、测试设备及计算机可读存储介质,旨在达成提高偏移测试的准确性的效果。

为实现上述目的,本发明提供一种偏移状态测试方法,所述偏移状态测试方法包括以下步骤:

获取增强现实设备的第一投影光机对应的第一测试图像,其中,所述第一测试图像中包括第一投影光机投影的测试图案;

获取所述测试图像中的预设像素点的位置参数以及灰度值,并根据多个所述预设像素点的位置参数及灰度值确定所述测试图案对应的位置信息;

根据所述位置信息确定所述第一投影光机的偏移状态。

可选地,所述测试图案为十字形图案,所述十字形图案包括水平方向上的第一轮廓和垂直方向上的第二轮廓。

可选地,所述获取所述测试图像中的预设像素点的位置参数以及灰度值,并根据多个所述预设像素点的位置参数及灰度值确定所述测试图案对应的位置信息的步骤之前,还包包括:

将第一预设区域内的第一像素列和第二像素列对应的像素点作为所述预设像素点;和/或,

将第二预设区域内的第一像素行和第二像素行对应的像素点作为所述预设像素点。

可选地,所述获取所述测试图像中的预设像素点的位置参数以及灰度值,并根据多个所述预设像素点的位置参数及灰度值确定所述测试图案对应的位置信息的步骤包括:

获取所述第一像素列以及所述第二像素列上的各个所述预设像素点的位置参数以及灰度值;

根据所述第一像素列上的各个所述预设像素点的位置参数以及灰度值确定所述测试图案对应的第一位置信息,以及根据所述第二像素列上的各个所述预设像素点的位置参数以及灰度值确定所述测试图案对应的第二位置信息;和/或,

根据所述第一像素行上的各个所述预设像素点的位置参数以及灰度值确定所述测试图案对应的第三位置信息,以及根据所述第二像素行上的各个所述预设像素点的位置参数以及灰度值确定所述测试图案对应的第四位置信息。

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