[发明专利]一种存储器的信息区数据上电自检方法

说明书

本发明涉及集成电路设计技术领域,公开了一种存储器信息区数据上电自检方法，包括以下步骤：S1：在存储器的信息区中选取M个存储单元，在M个存储单元中分别设置译码位；S2：在向存储器的信息区配置数据时，向M个存储单元的译码位写入一位二进制的校验数据；S3:MCU芯片上电；S4：MCU芯片的运行系统先自动加载存储器的信息区的配置数据，接着提取所述M个存储单元的译码位的校验数据进行译码，如果译码成功则MCU芯片的运行系统继续运行，否则重新执行步骤S4，直至译码成功，在使用时通过对存储器的数据进行自检，在数据出现异常后使MCU芯片的运行系统重新加载配置信息进行译码，避免MCU芯片将错误的数据来配置功能参数，确保MCU芯片运行时不会出现死机。

技术领域

本发明涉及集成电路设计技术领域，具体涉及一种存储器的信息区数据上电自检方法。

背景技术

微控制单元(MCU)，又称微型计算机或者单片机，是把中央处理器的频率与规格做适当缩减，并将内存、计数器、USB、A/D转换、UART、PLC、DMA等周边接口，甚至LCD驱动电路都整合在单一芯片上，形成芯片级的计算机，为不同的应用场合做不同组合控制。目前MCU芯片在上电后需要先初始化硬件环境，即先初始化内核时钟、主时钟和各个外设的时钟，然后关闭看门狗、建立中断向量表和初始化堆栈寄存器，然后初始化软件环境，即MCU芯片的运行系统自动加载存储器的信息区的数据来配置MCU的具体参数或者可选功能，然而在信息区的数据加载过程中如果存在干扰或者原来存储数据异常，会导致配置信息错误，进而导致MCU芯片的功能异常或者出行死机等问题。

发明内容

鉴于背景技术的不足，本发明提供了一种存储器信息区数据上电自检方法，所要解决的技术问题是目前MCU芯片的运行系统在加载存储器的信息区的数据来配置功能时可能会因为数据异常造成配置信息错误，进而导致MCU芯片功能异常或者出行死机等问题。

为解决以上技术问题，本发明提供了如下技术方案：一种存储器的信息区数据上电自检方法，包括以下步骤：

S1：在存储器的信息区中选取M个存储单元，M为正整数，在M个存储单元中分别设置译码位；

S2：在向存储器的信息区配置数据时，分别向M个存储单元的译码位写入一位二进制的校验数据；

S3：MCU芯片上电；

S4：MCU芯片的运行系统先自动加载存储器的信息区的配置数据，接着提取所述M个存储单元的译码位的校验数据进行译码，如果译码成功则MCU芯片的运行系统继续运行，否则重新执行步骤S4，直至译码成功。

作为进一步的技术方案，M个存储单元连续分布，M不大于存储单元的位数，M个存储单元的译码位的位置互不相同。

作为进一步的技术方案，步骤S4中的译码成功是指M个存储单元的译码位的校验数据在译码后的数据和预设值相同。

更进一步地，步骤S2中，将M个存储单元的译码位的校验数据按照存储地址增加的顺序依次存入到存储器的信息区的存储单元A的M位bit中，译码成功是指MCU芯片的运行系统提取到的M个存储单元的译码位的校验数据和存储单元A的M位bit中的数据相同。

本发明与现有技术相比所具有的有益效果是：通过本发明方法可以在上电后对存储器的信息区的数据进行自检，在存储器的信息区的数据出现异常或者错误后使MCU芯片的运行系统重新加载存储器的信息区的数据进行自检，直至译码成功，避免MCU芯片将存储器内的错误数据来配置功能参数，以及确保MCU芯片在运行时不会因为配置参数错误而出现功能异常或者死机等问题。

附图说明

本发明有如下附图：

图1本发明进行自检的流程图；

图2为实施例中的存储器的结构示意图；

图3为实施例中的第一种译码电路的电路示意图；