[发明专利]一种碳化硅单晶的制备方法在审
申请号: | 202110474168.6 | 申请日: | 2021-04-29 |
公开(公告)号: | CN113308732A | 公开(公告)日: | 2021-08-27 |
发明(设计)人: | 皮孝东;徐所成;王亚哲;姚秋鹏;钟红生;罗昊;杨德仁 | 申请(专利权)人: | 浙江大学杭州国际科创中心 |
主分类号: | C30B23/00 | 分类号: | C30B23/00;C30B29/36 |
代理公司: | 杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289 | 代理人: | 金方玮 |
地址: | 311200 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 碳化硅 制备 方法 | ||
1.一种碳化硅单晶的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:
1)配置碳源与硅源,置于生长室内,固定籽晶后密封生长室,抽真空;
2)将生长室升温至第一预设温度,保温,持续抽真空一段时间后进行升压并保持该压力状态;
3)继续升温至第二预设温度,减缓升温速率升温至第三预设温度后,调整升温速率继续升温至第四预设温度;
4)调整升温速率继续升温至第五预设温度,进行降压处理,通入氢气与保护气体并保持生长室内的状态,进行碳化硅在籽晶片上沉积生长;
5)按照停炉程序进行降温、停炉并取出晶体。
2.根据权利要求1所述的一种碳化硅单晶的制备方法,其特征在于,步骤1)中,碳源与硅源的质量比为1:1.1-1.3。
3.根据权利要求1所述的一种碳化硅单晶的制备方法,其特征在于,步骤1)中,抽真空达到本底真空度10-3Pa,1小时内的漏率不能超过1Pa。
4.根据权利要求1所述的一种碳化硅单晶的制备方法,其特征在于,步骤2)中,第一预设温度为1000℃-1200℃,持续抽真空的时间为3h-6h;保持的压力状态为40K Pa-80K Pa。
5.根据权利要求1所述的一种碳化硅单晶的制备方法,其特征在于,步骤3)中,第二预设温度为1300℃-1400℃,升温速率调整为130-135℃/h;第三预设温度为1800℃,升温速率调整为100℃/h;第四预设温度为2000℃。
6.根据权利要求1所述的一种碳化硅单晶的制备方法,其特征在于,步骤4)中,第五预设温度为2200℃,升温速率调整为200℃/h;降压处理是将生长室内的压力保持在1K Pa以内。
7.根据权利要求1所述的一种碳化硅单晶的制备方法,其特征在于,步骤4)中,保护气体为氩气,氢气与氩气的比例为1:15-2:15。
8.根据权利要求1所述的一种碳化硅单晶的制备方法,其特征在于,步骤4)中,保持生长室内的状态50h-70h。
9.根据权利要求1所述的一种碳化硅单晶的制备方法,其特征在于,步骤1)中,所述碳源包括碳粉或碳颗粒,所述硅源包括颗粒状硅料或粉末状硅料。
10.根据权利要求1所述的一种碳化硅单晶的制备方法,其特征在于,所述制备方法所用的生长室包括坩埚本体,所述坩埚本体内部设有过滤网与通气管,所述通气管的出口高于所述过滤网的上端面。
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