[发明专利]一种采用探头测量孔径的方法

权利要求书

1.一种采用探头测量孔径的方法，其特征在于，包括以下步骤：

a、对试件(1)的待测孔进行分类，将轴线分布于竖直方向及其周边区域的孔划分为A类孔，将轴线分布于水平方向及其周边区域的孔划分为B类孔；

b、A类孔测量，通过机床调用第一探头(4)依次在两个垂直于孔轴线的平面内测量孔直径φ1和φ2，计算φ1和φ2的差值Δ，将Δ值和孔径公差带进行比较得出A类孔的直径值；

c、B类孔测量，设置第二探头(7)的测点远离孔内壁的最低点，通过机床调用第二探头(7)依次在两个垂直于孔轴线的平面内测量孔直径φ3和φ4，计算φ3和φ4的差值Δ，将Δ值和孔径公差带进行比较得出B类孔的直径值；

所述步骤b中，将Δ值和孔径公差带进行比较得出A类孔的直径值具体是指当Δ值小于预设值时，取φ1和φ2的平均值作为A类孔的直径值；当Δ值大于预设值时，停止测量，待排除故障再重复计算φ1和φ2的差值Δ，将Δ值和孔径公差带进行比较，直至Δ值小于预设值；

所述步骤c中，将Δ值和孔径公差带进行比较得出B类孔的直径值具体是指当Δ值小于预设值时，取φ3和φ4的平均值作为B类孔的直径值；当Δ值大于预设值时，停止测量，待排除故障再重复计算φ3和φ4的差值Δ，将Δ值和孔径公差带进行比较，直至Δ值小于预设值。

2.根据权利要求1所述的一种采用探头测量孔径的方法，其特征在于：所述步骤a中，A类孔为盲孔(2)，B类孔为通孔(3)。

3.根据权利要求1所述的一种采用探头测量孔径的方法，其特征在于：所述步骤b中，两个垂直于孔轴线的平面包括第一水平面(5)和第二水平面(6)，测量孔直径φ1和φ2是指第一探头(4)先在第一水平面(5)内测量盲孔(2)内壁的四个测点并得到直径值φ1，第一探头(4)再继续伸入盲孔(2)，在第二水平面(6)内测量盲孔(2)内部的四个测点并得到直径值φ2。

4.根据权利要求1所述的一种采用探头测量孔径的方法，其特征在于：所述步骤c中，两个垂直于孔轴线的平面包括第一铅垂面(8)和第二铅垂面(9)，测量孔直径φ3和φ4是指第二探头(7)先在第一铅垂面(8)内测量通孔(3)内壁的四个测点并得到直径值φ3，第二探头(7)继续伸入通孔(3)，在第二铅垂面(9)内测量通孔(3)内壁的四个测点并得到直径值φ4。