[发明专利]一种氦质谱检漏系统

权利要求书

1.一种氦质谱检漏系统，其特征在于，包括高压氦气瓶、压力表、温度监测仪、试验工装、试验产品和氦质谱检漏仪，

在试验工装的氦气进口处接入高压氦气瓶，试验产品置于试验工装中，试验工装出口处连接氦质谱检漏仪测试试验产品的真空漏率；

通过调节高压氦气瓶开关来改变密封压力，压力表实时测量压力值；通过改变试验工装进口氦气源压力获得电连接器在不同工作压力情况下的密封漏率；温度监测仪实时监测试验产品的试验环境温度，将氦质谱检漏系统分别在293K常温、77K低温温区和550K高温温区下进行氦质谱检漏测试，从而获得电连接器在常温、低温、高温下的密封性能。

2.根据权利要求1所述的一种氦质谱检漏系统，其特征在于，试验工装包括试验工装下盖组件和试验工装上盖组件，验工装下盖组件包括定位销、试验工装下盖体、支撑轴、支撑块、衬套、弯式转接管；试验工装上盖组件包括直式连接管、温度传感器、O型密封圈、试验工装上盖体、衬套。

3.根据权利要求1所述的一种氦质谱检漏系统，其特征在于，温度传感器与试验工装上盖体之间通过O型圈密封，包括测温段、螺纹连接段、六角螺母段、不锈钢波纹管段，每一段之间均固定连接。

4.根据权利要求2所述的一种氦质谱检漏系统，其特征在于，试验工装下盖组件的通孔对准工装支架的支撑柱，试验工装下盖组件的弯式转接管对准工装支架支撑环的缺口，从而将试验工装下盖组件放置在工装支架的支撑环上。

5.根据权利要求4所述的一种氦质谱检漏系统，其特征在于，试验产品居中放置在试验工装下盖组件中。

6.根据权利要求5所述的一种氦质谱检漏系统，其特征在于，工装上盖组件装配到工装下盖组件上，装配过程中将工装上盖组件体上相应的通孔依次穿过工装支架的支撑柱、工装下盖组件上的定位销。

7.根据权利要求6所述的一种氦质谱检漏系统，其特征在于，将快卸螺栓沿着支撑轴向上转，固定在试验工装下盖体、试验工装上盖体相应的U型槽中，并拧紧螺母完成试验工装的装配。

8.根据权利要求2所述的一种氦质谱检漏系统，其特征在于，支撑块均布于试验工装下盖体,快卸螺栓装配在支撑轴上，限位在两个支撑块之间。

9.根据权利要求2所述的一种氦质谱检漏系统，其特征在于，试验工装下盖体、试验工装上盖体均采用转接管与转接头连接，连接部位通过台阶限位。

10.根据权利要求2所述的一种氦质谱检漏系统，其特征在于，试验工装下盖体、试验工装上盖体均设计有一凸起结构。