[发明专利]一种氦质谱检漏系统

说明书

本发明涉及一种氦质谱检漏系统，包括高压氦气瓶、压力表、温度监测仪、试验工装、试验产品和氦质谱检漏仪，在试验工装的氦气进口处接入高压氦气瓶，试验产品置于试验工装中，试验工装出口处连接氦质谱检漏仪测试试验产品的真空漏率；通过调节高压氦气瓶开关来改变密封压力，压力表实时测量压力值；通过改变试验工装进口氦气源压力获得电连接器在不同工作压力情况下的密封漏率；温度监测仪实时监测试验产品的试验环境温度，将氦质谱检漏系统分别在293K常温、77K低温温区和550K高温温区下进行氦质谱检漏测试，从而获得电连接器在常温、低温、高温下的密封性能。本发明可同时满足常温,低温温区和高温温区氦质谱检漏试验要求。

技术领域

本发明涉及一种氦质谱检漏系统，属于检漏技术领域，用于电连接器在常温(293K)、低温温区(77K)以及高温温区(550K)下的氦质谱检漏试验。

背景技术

电连接器担负着控制系统的电能传输、信号控制和传递的任务。卫星、航天飞机和运载火箭需要长时间在真空环境中运行，且新一代运载火箭舱段存在高低温环境宽、交变严酷的要求，因而其对电连接器的密封性能有较高的要求。为了验证电连接器在高低温环境的适应性，必须对其密封性能进行测试。

现有的电连接器高低温密封性能试验工装种类繁多，针对高温环境和低温环境有多套工装，通用性较低。在密封性能测试过程中无法实时监测产品试验温度，仅靠延长试验时间来保证产品的保温时间，试验效率低。

现有的试验工装结构往往需利用电连接器的接口螺纹，在试验过程中容易对螺纹表面镀层造成磕碰及划伤，导致产品的外观不合格。且目前常用的高温环境试验工装中采用了特制的金属骨架密封圈，成本较高、使用不方便且寿命短。

发明内容

本发明解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提出一种氦质谱检漏系统，可同时满足常温(293K),低温温区(77K)和高温温区(550K)氦质谱检漏试验要求，试验工装的上盖组件及下盖组件之间采用定位销导向及定位、锁紧采用了快卸螺栓结构，密封可靠、装卸方便，提高了试验工装的装配效率、缩短试验时间、提高试验效率。

本发明解决技术的方案是：

一种氦质谱检漏系统，包括高压氦气瓶、压力表、温度监测仪、试验工装、试验产品和氦质谱检漏仪，

在试验工装的氦气进口处接入高压氦气瓶，试验产品置于试验工装中，试验工装出口处连接氦质谱检漏仪测试试验产品的真空漏率；

通过调节高压氦气瓶开关来改变密封压力，压力表实时测量压力值；通过改变试验工装进口氦气源压力获得电连接器在不同工作压力情况下的密封漏率；温度监测仪实时监测试验产品的试验环境温度，将氦质谱检漏系统分别在293K常温、77K低温温区和550K高温温区下进行氦质谱检漏测试，从而获得电连接器在常温、低温、高温下的密封性能。

进一步的，试验工装包括试验工装下盖组件和试验工装上盖组件，验工装下盖组件包括定位销、试验工装下盖体、支撑轴、支撑块、衬套、弯式转接管；试验工装上盖组件包括直式连接管、温度传感器、O型密封圈、试验工装上盖体、衬套

进一步的，温度传感器与试验工装上盖体之间通过O型圈密封，包括测温段、螺纹连接段、六角螺母段、不锈钢波纹管段，每一段之间均固定连接。

进一步的，试验工装下盖组件的通孔对准工装支架的支撑柱，试验工装下盖组件的弯式转接管对准工装支架支撑环的缺口，从而将试验工装下盖组件放置在工装支架的支撑环上。

进一步的，试验产品居中放置在试验工装下盖组件中。

进一步的，工装上盖组件装配到工装下盖组件上，装配过程中将工装上盖组件体上相应的通孔依次穿过工装支架的支撑柱、工装下盖组件上的定位销。

进一步的，将快卸螺栓沿着支撑轴向上转，固定在试验工装下盖体、试验工装上盖体相应的U型槽中，并拧紧螺母完成试验工装的装配。