[发明专利]一种从掺锗废旧光纤中回收和利用锗的方法有效

专利信息
申请号: 202110483190.7 申请日: 2021-04-30
公开(公告)号: CN113215420B 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 张承龙;徐秋雨;王瑞雪;马恩;白建峰;王景伟 申请(专利权)人: 上海第二工业大学
主分类号: C22B41/00 分类号: C22B41/00;C22B1/02;C22B7/00;C30B28/04;C30B29/08
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 王洁平
地址: 201209 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 废旧 光纤 回收 利用 方法
【权利要求书】:

1.一种从掺锗废旧光纤中回收和利用锗的方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)将废旧掺锗光纤依次进行破碎和球磨;

(2)将球磨后光纤在空气氛围下、600-800℃的温度下马弗炉中焙烧2-6h;

(3)将焙烧后光纤用摩尔浓度为0.025mol/L-0.3mol/L的四硼酸钠溶液,在60-200℃的温度下浸出后过滤;

(4)将浸出后过滤液中的硅离子浓度稀释至0.5-2mol/L,然后加入硅去除试剂反应,再过滤除杂质硅元素;

(5)以铂片为阳极,液态金属为阴极,采用电沉积法从除硅后的浸出过滤液中制备多晶锗薄膜。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤(1)中,球磨转速为350-550r/min,球磨时间为2-4h,球磨后废旧光纤粒径为0.075-0.15mm。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤(3)中,焙烧后光纤和四硼酸钠溶液的固液质量体积比为1:100-1:500g/mL,浸出时间为2-6h。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤(4)中,硅去除试剂选自氯化钠、氯化钾或氯化钙中的一种或几种,硅去除试剂的质量为浸出液重量的5-15%;调节pH为8-9,静置反应2-5h后过滤。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤(5)中,液态金属为镓、铟镓或镓铋合金。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤(5)中,采用恒电位法沉积,电沉积温度为40-80℃,沉积电压为1.5-1.8V,pH为1-12,沉积时间为1-4h。

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