[发明专利]待测试模块的测试电路、方法及装置

权利要求书

1.一种待测试模块的测试电路，包括：测试数据产生模块、功能安全模块、配置模块、时序信号产生模块、平面数据产生模块和附加数据产生模块；

所述测试数据产生模块包括：多个测试数据产生单元，每个所述测试数据产生单元分别与所述功能安全模块电连接；

不同所述测试数据产生单元对应不同增益值，每个所述测试数据产生单元用于对与该测试数据产生单元所支持的数据类型相一致的原始数据施加相应的增益值，以生成与所述数据类型相一致的测试数据，从而使不同所述测试数据产生单元生成的测试数据不同，以模拟长短曝光的效果；

所述功能安全模块与所述待测试模块电连接，用于对所述测试数据进行校验运算处理，以得到第一处理结果，基于所述测试数据进行校验运算处理和错误注入处理，以得到第二处理结果；

所述配置模块中存储有每个所述测试数据产生单元、所述功能安全模块、所述平面数据产生模块、所述附加数据产生模块、所述时序信号产生模块各自的配置信息；

所述时序信号产生模块用于基于每个所述测试数据产生单元、所述平面数据产生模块、所述附加数据产生模块各自的配置信息，生成每个所述测试数据产生单元、所述平面数据产生模块、所述附加数据产生模块各自的时序信号；

每个所述测试数据产生单元、所述平面数据产生模块、所述附加数据产生模块用于分别基于自身的所述时序信号生成数据；

所述功能安全模块还用于对所述时序信号进行错误注入处理；

所述待测试模块用于基于所述测试数据、所述第一处理结果、所述第二处理结果、经错误注入处理后的所述时序信号，生成所述测试结果。

2.根据权利要求1所述的电路，其中，

所述平面数据产生模块与所述待测试模块电连接，所述平面数据产生模块与所述测试数据产生模块中的一个所述测试数据产生单元对应；

所述平面数据产生模块用于生成与其所对应的所述测试数据产生单元生成的所述测试数据对应的平面数据；

所述待测试模块用于基于所述测试数据、所述第一处理结果、所述第二处理结果、所述平面数据，生成所述测试结果。

3.根据权利要求1所述的电路，其中，

所述附加数据产生模块与所述功能安全模块电连接；

所述附加数据产生模块用于生成与所述测试数据对应的附加数据；

所述功能安全模块还用于对所述附加数据进行校验运算处理，以得到第三处理结果，基于所述附加数据进行校验运算处理和错误注入处理，以得到第四处理结果；

所述待测试模块用于基于所述测试数据、所述第一处理结果、所述第二处理结果、所述附加数据、所述第三处理结果、所述第四处理结果，生成所述测试结果。

4.根据权利要求1所述的电路，其中，所述配置模块包括：存储单元和多个寄存器，每个所述寄存器中均存储有所述配置信息，每个所述测试数据产生单元、所述功能安全模块、所述平面数据产生模块、所述附加数据产生模块、所述时序信号产生模块分别对应所述配置模块中的不同所述寄存器；

每个所述测试数据产生单元、所述功能安全模块、所述平面数据产生模块、所述附加数据产生模块、所述时序信号产生模块用于分别基于所述配置模块中的相应所述寄存器中的所述配置信息，对自身进行配置；

所述功能安全模块还用于存储所述第一处理结果至所述存储单元。

5.根据权利要求1所述的电路，其中，所述电路还包括：数据输出模块；

所述数据输出模块分别与所述功能安全模块、所述平面数据产生模块、所述待测试模块电连接，所述数据输出模块用于输出以下至少一项至所述待测试模块：表征当前是否在进行平面数据输出的信息，表征当前是否在进行附加数据输出的信息，表征当前是否在进行所述测试数据输出的信息，当前输出的所述测试数据对应的所述时序信号，指示当前输出的所述测试数据对应的所述测试数据产生单元的信息，所述平面数据，所述测试数据，所述附加数据，指示当前输出的所述测试数据的数据类型的信息。