[发明专利]待测试模块的测试电路、方法及装置

说明书

公开了一种待测试模块的测试电路、方法及装置。该电路包括：测试数据产生模块和功能安全模块；测试数据产生模块包括：多个测试数据产生单元，每个测试数据产生单元分别与功能安全模块电连接；每个测试数据产生单元用于基于与该测试数据产生单元所支持的数据类型相一致的原始数据，生成与数据类型相一致的测试数据；功能安全模块与待测试模块电连接，用于对测试数据进行校验运算处理，以得到第一处理结果，基于测试数据进行校验运算处理和错误注入处理，以得到第二处理结果；待测试模块用于基于测试数据、第一处理结果、第二处理结果，生成测试结果。本公开的实施例能够实现多路测试，从而能够满足对多路输入进行处理的应用要求。

技术领域

本公开涉及测试技术领域，尤其涉及一种待测试模块的测试电路、方法及装置。

背景技术

在许多情况下，需要进行模块的测试，例如，对于图像处理领域，需要通过测试电路，实现图像通路、图像信号处理(Image Signal Processing，ISP)单元等的测试。

需要指出的是，随着技术的不断进步，图像处理领域存在对多路输入进行处理的应用要求，而传统的测试电路仅适用于单路的测试，无法满足这种应用要求。

发明内容

为了解决上述技术问题，提出了本公开。本公开的实施例提供了一种待测试模块的测试电路、方法及装置。

根据本公开实施例的一个方面，提供了一种待测试模块的测试电路，包括：测试数据产生模块和功能安全模块；

所述测试数据产生模块包括：多个测试数据产生单元，每个所述测试数据产生单元分别与所述功能安全模块电连接；

每个所述测试数据产生单元用于基于与该测试数据产生单元所支持的数据类型相一致的原始数据，生成与所述数据类型相一致的测试数据；

所述功能安全模块与所述待测试模块电连接，用于对所述测试数据进行校验运算处理，以得到第一处理结果，基于所述测试数据进行校验运算处理和错误注入处理，以得到第二处理结果；

所述待测试模块用于基于所述测试数据、所述第一处理结果、所述第二处理结果，生成测试结果。

根据本公开实施例的另一个方面，提供了一种待测试模块的测试方法，应用于上述待测试模块的测试电路，所述方法包括：

调用所述电路中的每个测试数据产生单元基于与该测试数据产生单元所支持的数据类型相一致的原始数据，生成与所述数据类型相一致的测试数据；

对所述测试数据进行校验运算处理，以得到第一处理结果；

基于所述测试数据进行校验运算处理和错误注入处理，以得到第二处理结果；

基于所述测试数据、所述第一处理结果、所述第二处理结果，生成所述待测试模块的测试结果。

根据本公开实施例的再一个方面，提供了一种待测试模块的测试装置，应用于上述待测试模块的测试电路，所述装置包括：

第一生成模块，用于调用所述电路中的每个测试数据产生单元基于与该测试数据产生单元所支持的数据类型相一致的原始数据，生成与所述数据类型相一致的测试数据；

第一处理模块，用于对所述第一生成模块生成的所述测试数据进行校验运算处理，以得到第一处理结果；

第二处理模块，用于基于所述第一生成模块生成的所述测试数据进行校验运算处理和错误注入处理，以得到第二处理结果；

第二生成模块，用于基于所述第一生成模块生成的所述测试数据、所述第一处理模块得到的所述第一处理结果、所述第二处理模块得到的所述第二处理结果，生成所述待测试模块的测试结果。