[发明专利]阀体结构及具有其的晶圆清洗系统有效
申请号: | 202110490830.7 | 申请日: | 2021-05-06 |
公开(公告)号: | CN113217672B | 公开(公告)日: | 2022-04-15 |
发明(设计)人: | 娄汉;庄武斌;张锐;沈玉柱 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | F16K11/22 | 分类号: | F16K11/22;F16K1/38;F16K1/42;F16K27/02;F16K31/122;H01L21/67;B08B3/02;B08B3/08;B08B13/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 谭玲玲 |
地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阀体 结构 具有 清洗 系统 | ||
本发明提供了一种阀体结构及具有其的晶圆清洗系统。其中,阀体结构包括:阀座,具有进液口、出液口及过液口,过液口与喷液结构的喷液嘴连通;第一阀体组件,包括第一阀针,第一阀针设置在阀座内,以使进液口和过液口连通或断开连通;第二阀体组件,包括第二阀针,第二阀针可活动地设置在阀座内,以使出液口和过液口连通或断开连通;其中,当第一阀针运动至连通进液口与过液口的第一位置时,进入至进液口内的液体从过液口排出;当第二阀针运动至出液口与过液口连通、第一阀针运动至进液口与过液口断开连通时,缓存在喷液嘴内的液体被回吸至出液口内。本发明解决了现有技术中清洗液易残留在喷液嘴上的问题。
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,具体而言,涉及一种阀体结构及具有其的晶圆清洗系统。
背景技术
目前,在半导体湿法清洗工艺中,通常将溶解在水中的臭氧O3作为清洗液对晶圆进行清洗。
然而,在晶圆清洗系统对晶圆完成清洗后,残留在喷液结构的喷液嘴上的清洗液会滴落在晶圆上,导致晶圆上产生缺陷,影响晶圆的良品率。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种阀体结构及具有其的晶圆清洗系统,以解决现有技术中清洗液易残留在喷液嘴上的问题。
为了实现上述目的,根据本发明的一个方面,提供了一种阀体结构,包括:阀座,具有进液口、出液口及过液口,过液口与喷液结构的喷液嘴连通;第一阀体组件,包括第一阀针,第一阀针可活动地设置在阀座内,以使进液口和过液口连通或断开连通;第二阀体组件,包括第二阀针,第二阀针可活动地设置在阀座内,以使出液口和过液口连通或断开连通;其中,当第一阀针运动至连通进液口与过液口的第一位置时,进入至进液口内的液体从过液口排出;当第二阀针运动至出液口与过液口连通、第一阀针运动至进液口与过液口断开连通时,缓存在喷液嘴内的液体被回吸至出液口内。
进一步地,阀座还具有第一阀腔及与第一阀腔连通的第一阀口,进液口通过第一阀口与过液口连通,第一阀针在第一阀腔内可活动地设置,以打开或关闭第一阀口。
进一步地,阀座还具有第二阀腔及与第二阀腔连通的第二阀口,过液口通过第二阀口与出液口连通,第二阀针在第二阀腔内可活动地设置,以打开或关闭第二阀口。
进一步地,阀座还具有:第一通道,第一通道的两端分别与进液口和第一阀口连通;第二通道,第二通道的两端分别与第一阀腔和过液口连通。
进一步地,阀座还具有:第三通道,第三通道的两端分别与第一阀腔和第二阀口连通;第四通道,第四通道的两端分别与第二阀腔和出液口连通。
进一步地,第二通道和第三通道分别位于第一阀腔的两侧,在第一阀针关闭第一阀口时,第二通道通过第一阀腔与第三通道连通。
进一步地,第一阀体组件还包括第一套筒和第一驱动部,第一套筒具有第一进气口;第一驱动部包括:第一活塞,第一活塞可升降地设置在第一套筒内,第一进气口位于第一活塞的下方;其中,气体通过第一进气口进入至第一套筒内,以推动第一活塞带动第一阀针朝向远离第一阀口的一侧运动,进而连通第一通道和第二通道;第一弹性件,第一弹性件位于第一套筒内,以用于向第一活塞施加朝向第一阀口运动的弹性力。
进一步地,阀体结构还包括:第一封堵件,可活动地设置在第一进气口处;第三驱动部,第三驱动部与第一封堵件连接,以驱动第一封堵件封堵或避让第一进气口。
进一步地,第一阀体组件还包括第二套筒和第二驱动部,第二套筒具有第二进气口;第二驱动部包括:第二活塞,第二活塞可升降地设置在第二套筒内,第二进气口位于第二活塞的下方;其中,气体通过第二进气口进入至第二套筒内,以推动第二活塞带动第二阀针朝向远离第二阀口的一侧运动;第二弹性件,第二弹性件位于第二套筒内,以用于向第二活塞施加朝向第二阀口运动的弹性力。
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