[发明专利]分析支援装置、分析支援方法及计算机可读取介质在审
申请号: | 202110493186.9 | 申请日: | 2021-05-07 |
公开(公告)号: | CN113655161A | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
发明(设计)人: | 渡辺覚 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N30/86 | 分类号: | G01N30/86 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 薛恒;徐川 |
地址: | 日本京都府京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分析 支援 装置 方法 计算机 读取 介质 | ||
1.一种分析支援装置,其特征在于,包括:
色谱图生成部,使用从分析装置获得的测定数据生成色谱图;
面积计算部,求出所述色谱图中所包含的各波峰的面积百分率;
判定部,判定所述色谱图中所包含的各波峰的分离状态;以及
分析支援信息显示部,将分析支援信息显示于显示器;且
所述分析支援信息显示部包括色谱图显示部,
所述色谱图显示部将所述色谱图生成部所生成的所述色谱图显示于所述显示器,并且当一个波峰的面积百分率为规定的阈值以上,且在所述判定部中判定为所述一个波峰是未分离的波峰时,识别显示所述一个波峰。
2.根据权利要求1所述的分析支援装置,其特征在于,
所述分析支援装置还包括推定部,
所述推定部使用给予至分析装置的多个分析条件数据、与基于所述多个分析条件数据而由所述分析装置获得的多个测定数据,对测定品质指标数据的分布进行推定,
所述分析支援信息显示部包括显示所述测定品质指标数据的分布的测定品质指标显示部,
所述色谱图显示部在由所述测定品质指标显示部显示的所述测定品质指标数据的分布区域中,根据一个分析条件数据的指定操作,与所述一个分析条件数据的位置对应地显示所述色谱图。
3.根据权利要求2所述的分析支援装置,其特征在于,
所述色谱图显示部将所述色谱图重叠显示于所述测定品质指标数据的分布区域中。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的分析支援装置,其特征在于,
所述色谱图显示部对于在所述判定部中被判定为未分离的波峰,根据面积百分率以不同的形态予以显示。
5.一种分析支援方法,其特征在于,包括以下工序:
使用从分析装置获得的测定数据生成色谱图;
求出所述色谱图中所包含的各波峰的面积百分率;
判定所述色谱图中所包含的各波峰的分离状态;以及
将所生成的所述色谱图显示于显示器,并且当一个波峰的面积百分率为规定的阈值以上,且在所述判定工序中判定为所述一个波峰是未分离的波峰时,识别显示所述一个波峰。
6.一种存储了分析支援程序的计算机可读取介质,其特征在于,使计算机执行以下处理:
使用从分析装置获得的测定数据生成色谱图;
求出所述色谱图中所包含的各波峰的面积百分率;
判定所述色谱图中所包含的各波峰的分离状态;以及
将所生成的所述色谱图显示于显示器,并且当一个波峰的面积百分率为规定的阈值以上,且在所述判定处理中判定为所述一个波峰是未分离的波峰时,识别显示所述一个波峰。
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