[发明专利]分析支援装置、分析支援方法及计算机可读取介质在审
申请号: | 202110493186.9 | 申请日: | 2021-05-07 |
公开(公告)号: | CN113655161A | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
发明(设计)人: | 渡辺覚 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N30/86 | 分类号: | G01N30/86 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 薛恒;徐川 |
地址: | 日本京都府京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 分析 支援 装置 方法 计算机 读取 介质 | ||
本发明为一种分析支援装置、分析支援方法及计算机可读取介质,可向用户提供与在分析装置中色谱图中所包含的波峰有关的有用信息。本发明的分析支援装置包括:色谱图生成部,使用从分析装置获得的测定数据生成色谱图;面积计算部,求出色谱图中所包含的各波峰的面积百分率;判定部,判定色谱图中所包含的各波峰的分离状态;以及分析支援信息显示部,将分析支援信息显示于显示器。分析支援信息显示部包括色谱图显示部,所述色谱图显示部将色谱图生成部所生成的色谱图显示于显示器,并且当一个波峰的面积百分率为规定的阈值以上,且在判定部中判定为一个波峰是未分离的波峰时,识别显示一个波峰。
技术领域
本发明涉及一种分析支援装置、分析支援方法及存储了分析支援程序的计算机可读取介质。
背景技术
存在对试样的成分进行分析的分析装置。在分析装置中所测定的数据中,混合存在试料中存在的杂质的数据。因此,基于测定数据所制作的色谱图中,除了试料的波峰以外,还包含杂质的微小的波峰。杂质一般而言需要按照指导方针进行确认,需要时间与工夫。因此,杂质的确认成为分析工序进而开发工序的成本增大的因素。
国际公开2013-035639号公报中,公开了一种色谱仪用数据处理装置。国际公开2013-035639号公报的数据处理装置能够判定色谱图中波峰是否包含杂质。
另外,通过进行分析条件与测定品质指标之间的回归分析,能够对测定品质指标的分布进行推定。而且,通过向用户提示测定品质指标的分布中超过阈值的范围作为设计空间,能够支援方法搜索的作业。
发明内容
根据国际公开2013-035639号公报中所公开的数据处理装置,用户可获得色谱图中所包含的波峰是源自成分还是由杂质产生的判断材料。进而,只要可提供与色谱图中所包含的波峰有关的各种信息,则对使用分析装置的用户而言有益。
本发明的目的在于向用户提供与在分析装置中色谱图中所包含的波峰有关的有用信息。
按照本发明的一方面的分析支援装置包括:色谱图生成部,使用从分析装置获得的测定数据生成色谱图;面积计算部,求出色谱图中所包含的各波峰的面积百分率;判定部,判定色谱图中所包含的各波峰的分离状态;以及分析支援信息显示部,将分析支援信息显示于显示器。分析支援信息显示部包括色谱图显示部,所述色谱图显示部将色谱图生成部所生成的色谱图显示于显示器,并且当一个波峰的面积百分率为规定的阈值以上,且在判定部中判定为一个波峰是未分离的波峰时,识别显示一个波峰。
附图说明
图1是本实施方式的分析系统的整体图。
图2是本实施方式的计算机的结构图。
图3是本实施方式的计算机的功能框图。
图4是表示液相色谱仪中所获得的色谱图的图。
图5是表示色谱图中的波峰的图。
图6是表示显示出分离度的分布的响应曲面的图。
图7是表示相对于分离度的分布的设计空间的图。
图8是表示本实施方式的分析支援方法的流程图。
图9是表示本实施方式的分析支援方法的流程图。
图10是表示显示器所显示的分析支援画面的图。
图11的(A)、图11的(B)是表示显示器所显示的分析支援画面的图。
图12是表示显示器所显示的分析支援画面的图。
具体实施方式
接着,参照随附的图式对本发明的实施方式的分析支援装置、方法及程序的结构进行说明。
(1)分析系统的整体结构
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社岛津制作所,未经株式会社岛津制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110493186.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。