[发明专利]一种径向绝缘子的低温耐压测试方法

说明书

本发明公开了一种径向绝缘子的低温耐压测试方法，包括对径向绝缘子进行冷热冲击，真空检漏、直流电压测试等步骤。采用本发明所述的测试方法，可以有效测量出径向绝缘子在低温下的真空和耐压性能，为超导传输线系统的制造提供保障。

技术领域

本发明涉及聚变反应堆技术领域，具体涉及一种超导传输线系统中径向绝缘子的低温耐压测试方法。

背景技术

随着聚变研究的发展，约束等离子体的位形的磁体系统提出更高的要求。超导传输线系统是低温磁体系统和室温电源系统的电与热的传输通道。径向绝缘子做为超导传输线系统的关键部件，其在低温下的真空和耐压性能直接关系到超导传输线系统的主体性能，因此亟需一种径向绝缘子的低温耐压测试方法。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种径向绝缘子的低温耐压测试方法。

一种径向绝缘子的低温耐压测试方法，包括以下步骤：

（1）、将径向绝缘子放入及取出液氮，完成冷热冲击；

（2）、对径向绝缘子进行真空检漏；

（3）、将含导体的过渡件焊接在径向绝缘子的一端，将模拟波纹管焊接在径向绝缘子的另一端，所形成焊缝在1.5个大气压下进行真空泄漏检查，真空漏率要求小于1×10-10Pa•m3/s；

（4）、将焊接有含导体的过渡件、模拟波纹管的径向绝缘子，放入液氮池内，并在含导体的过渡件上电接直流高压正极，模拟波纹管上电接接地线，在常温和低温液氮温度下进行直流电压测试，要求10KV的电流电压下，漏电流低于30μA；

（5）、根据上述真空漏率及漏电流要求，判断径向绝缘子测试的低温耐压是否合格。

采用本发明所述的测试方法，可以有效测量出径向绝缘子在低温下的真空和耐压性能，为超导传输线系统的制造提供保障。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明中步骤（3）-（6）所采用装置的结构示意图；

图2为本发明中步骤（7）所采用装置的结构示意图；

图3为本发明中步骤（8）所采用装置的结构示意图；

图4为本发明中步骤（9）-（10）所采用装置的结构示意图；

图5为本发明中步骤（11）所采用装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的优选实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

一种径向绝缘子的低温耐压测试方法，包括以下步骤：

（1）、用无水乙醇对液氮池进行清洁处理，确保表面无油脂等影响测试的污物；

（2）、根据径向绝缘子体积和材质，估算导入液氮量；

（3）、如图1所示，将径向绝缘子1整体放置到液氮池2中；

（4）、注入液氮3至径向绝缘子1没入液氮表面以下，或将径向绝缘子上需要测试的焊缝没入液氮表面以下，并根据液氮池消耗，随时补充液氮；

（5）、径向绝缘子1表面没有气泡时停止注入液氮，放置2分钟；

（6）、将径向绝缘子1从液氮池2提出；

（7）、喷检：参见图2，把径向绝缘子1放入真空检漏装置4上，密封面用真空脂涂抹，径向绝缘子1上端用橡胶塞5密封，在密封面上喷氦气6，抽真空检漏，真空漏率要求小于1×10-10Pa•m3/s；