[发明专利]去膜检测方法及装置

权利要求书

1.一种去膜检测方法，其特征在于，包括：

通过光电开关检测目标对象的膜层是否已去除；

若目标对象的膜层未去除，则控制执行机构实施第一预设的动作；

若目标对象的膜层已去除，则控制执行机构实施第二预设的动作。

2.根据权利要求1所述的去膜检测方法，其特征在于，

所述第一预设的动作是保持对所述目标对象的位置限定，所述第二预设的动作是解除对所述目标对象的位置限定。

3.根据权利要求2所述的去膜检测方法，其特征在于，

所述通过光电开关检测目标对象的膜层是否已去除的步骤进一步包括：根据在预设时长内的至少一个光电开关的触发情况确定所述目标对象的膜层是否已去除。

4.根据权利要求2所述的去膜检测方法，其特征在于，所述至少一个光电开关包括多个光电开关，并且所述根据在预设时长内的至少一个光电开关的触发情况确定所述目标对象的膜层是否已去除的步骤包括：

初始化计时器及计数器；

判断第一光电开关是否被触发；

若判定所述第一光电开关被触发，则控制所述计时器开始计时并将所述计数器的值加一；

在所述预设时长内，同时执行下列操作：若所述多个光电开关中的任一个被触发，则将所述计数器的值加一；

周期性地确认是否满足判别条件，若满足所述判别条件，则确定所述目标对象的膜层已去除，否则，确定所述目标对象的膜层未去除；

其中，所述判别条件是：不满足误检测条件并且所述计数器的值不小于第一预设值以及所述计时器的值大于第二预设值并小于第三预设值；

若确认满足误检测条件或者所述计时器的值已大于所述预设时长并且确定所述目标对象的膜层未去除，则返回初始化所述计时器及所述计数器的步骤，否则结束流程。

5.根据权利要求4所述的去膜检测方法，其特征在于，

所述误检测条件是下列中的任何一项：所述计时器开始计时前，已有非所述第一光电开关被触发；计时时长等于第一预设间隔时仍未有任一非所述第一光电开关被触发；计时时长小于第二预设间隔时，非所述第一光电开关中的一个被触发。

6.根据权利要求1所述的去膜检测方法，其特征在于，

仅在每次检测到目标对象的位置已被限定的情况下触发所述通过光电开关检测目标对象的膜层是否已去除的步骤的执行。

7.一种去膜检测装置，其特征在于，所述去膜检测装置包括：

控制器、至少一个光电开关以及限位器；

所述控制器与所述至少一个光电开关以及所述限位器电连接；

所述至少一个光电开关用于检测目标对象的膜层是否已去除；

所述控制器用于根据检测结果控制所述限位器执行相应的动作，其中，若目标对象的膜层未去除，则控制所述限位器实施第一预设的动作，若目标对象的膜层已去除，则控制执行机构实施第二预设的动作；

所述限位器用于限定所述目标对象的位置，并根据所述控制器的控制实施所述第一预设的动作或所述第二预设的动作。

8.根据权利要求7所述的去膜检测装置，其特征在于，

所述第一预设的动作是保持对所述目标对象的位置限定，所述第二预设的动作是解除对所述目标对象的位置限定。

9.根据权利要求7所述的去膜检测装置，其特征在于，所述控制器包括：计时器，所述计时器用于根据判断模块的触发实施计时操作；

计数器，所述计数器用于记录在预设时长内对所述至少一个光电开关的触发情况；

判断模块，用以控制所述计时器和计数器协同工作并根据在所述预设时长内的所述至少一个光电开关的触发情况确定所述目标对象的膜层是否已去除；驱动模块，所述驱动模块用于根据所述目标对象的膜层是否已去除来控制所述限位器实施所述第一预设的动作或所述第二预设的动作。

10.根据权利要求7所述的去膜检测装置，其特征在于，

每个所述光电开关用于检测所述目标对象对应的特定部位上是否存在膜层，

其中，所述膜层贴附在所述目标对象的表面上。