[发明专利]去膜检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 202110517591.X 申请日: 2021-05-12
公开(公告)号: CN113391365B 公开(公告)日: 2023-10-13
发明(设计)人: 魏文浩;林靖强;熊政国;刘东;吕宇轩;李文辉;王伟;易辉祥 申请(专利权)人: TCL王牌电器(惠州)有限公司
主分类号: G01V8/10 分类号: G01V8/10
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 徐世俊
地址: 516006 广东省惠州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 检测 方法 装置
【说明书】:

本申请公开了一种去膜检测方法及装置,所述去膜检测方法包括:通过光电开关检测目标对象的膜层是否已去除;若目标对象的膜层未去除,则控制执行机构实施第一预设的动作;若目标对象的膜层已去除,则控制执行机构实施第二预设的动作。本发明用以解决无法有效检测目标对象上的膜层去除与否以及检测成本高的技术问题。

技术领域

本申请涉及制造设备技术领域,尤其涉及一种去膜检测方法及装置。

背景技术

随着科学技术的日益发展,许多设备存在易碎或易被划伤的零部件,这些零部件在未被使用或装配之前需要在其上贴附保护膜,而在成品装配过程中需要对这些作为零部件的目标对象的保护膜实施去除操作。示例性地,在现有的屏幕生产过程中,为了保护屏幕免遭刮伤以及损害,通常在屏幕上贴附保护膜。在成品装配过程中,工作人员需要手工去除保护膜,以将无膜层覆盖的屏幕放置于机器内进行装配。然而,在实际的操作过程中,工作人员容易出现操作失误,导致未被撕除保护膜的屏幕被放置于机器中进行装配,由此导致在装配后需将该显示屏幕重新返厂修理,进而影响显示屏幕的制造效率。

因此,有必要提出一种新型的膜层去除检测装置及其方法,以克服上述缺陷。

发明内容

本发明的目的在于,提供一种去膜检测方法及其装置,以解决无法有效检测目标对象的保护膜撕除与否以及检测成本高的技术问题。

为实现上述目的,本发明提供一种去膜检测方法,所述去摸检测方法包括:通过光电开关检测目标对象的膜层是否已去除;若目标对象的膜层未去除,则控制执行机构实施第一预设的动作若目标对象的膜层已去除,则控制执行机构实施第二预设的动作。

优选地,所述第一预设的动作是保持对所述目标对象的位置限定,所述第二预设的动作是解除对所述目标对象的位置限定。

优选地,所述通过光电开关检测目标对象的膜层是否已去除的步骤进一步包括:根据在预设时长内的至少一个光电开关的触发情况确定所述目标对象的膜层是否已去除

优选地,所述至少一个光电开关包括多个光电开关,并且所述根据在预设时长内的至少一个光电开关的触发情况确定所述目标对象的膜层是否已去除的步骤包括:初始化计时器及计数器;判断第一光电开关是否被触发;若判定所述第一光电开关被触发,则控制所述计时器开始计时并将所述计数器的值加一;在所述预设时长内,同时执行下列操作:若所述多个光电开关中的任一个被触发,则将所述计数器的值加一;周期性地确认是否满足判别条件,若满足所述判别条件,则确定所述目标对象的膜层已去除,否则,确定所述目标对象的膜层未去除,其中,所述判别条件是:不满足误检测条件并且所述计数器的值不小于第一预设值且所述计时器的值大于第二预设值并小于第三预设值;若确认满足误检测条件或者所述计时器的值已大于所述预设时长并且确定所述目标对象的膜层未去除,则返回初始化所述计时器及所述计数器的步骤,否则结束流程。

优选地,所述误检测条件是下列中的任何一项:所述计时器开始计时前,已有非所述第一光电开关被触发;计时时长等于第一预设间隔时仍未有任一非所述第一光电开关被触发;计时时长小于第二预设间隔时,非所述第一光电开关中的一个被触发。

优选地,所述多个光电开关包括3个光电开关,并且所述第一预设值是3,所述第二预设值是5秒,所述第三预设值是7秒。

优选地,仅在每次检测到目标对象的位置已被限定的情况下触发所述通过光电开关检测目标对象的膜层是否已去除的步骤的执行。

进一步地,本发明还提供一种去膜检测装置,所述去膜检测装置包括:控制器、至少一个光电开关以及限位器;所述控制器与所述至少一个光电开关以及所述限位器电连接;所述至少一个光电开关用于检测目标对象的膜层是否已去除;所述控制器用于根据检测结果控制所述限位器执行相应的动作,其中,若目标对象的膜层未去除,则控制所述限位器实施第一预设的动作,若目标对象的膜层已去除,则控制执行机构实施第二预设的动作;所述限位器用于限定所述目标对象的位置,并根据所述控制器的控制实施所述第一预设的动作或所述第二预设的动作。

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