[发明专利]SRAM存储单元电路在审
申请号: | 202110518201.0 | 申请日: | 2021-05-12 |
公开(公告)号: | CN113113064A | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 何卫锋;张灏;孙亚男;毛志刚 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G11C11/4074 | 分类号: | G11C11/4074;G11C11/4094 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 曹廷廷 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | sram 存储 单元 电路 | ||
1.一种SRAM存储单元电路,其特征在于,包括:
第一PMOS管、第三PMOS管、第一NMOS管、第三NMOS管构成的第一反相器;
第二PMOS管、第四PMOS管、第二NMOS管、第四NMOS管构成的第二反相器;
所述第一反相器与所述第二反相器构成一负反馈电路以降低所述SRAM存储单元电路的漏电流。
2.如权利要求1所述的SRAM存储单元电路,其特征在于,还包括第五PMOS管构成第一下拉网络旁路以及第六PMOS管构成第二下拉网络旁路;
所述第一下拉网络旁路与所述第一反相器连接;
所述第二下拉网络旁路与所述第二反相器连接。
3.如权利要求2所述的SRAM存储单元电路,其特征在于,还包括第五NMOS管以及第六NMOS管;
所述第三NMOS管的源极以及所述第四NMOS管的源极与一电源电压连接,所述第三NMOS管的漏极与所述第一PMOS管的源极连接,所述第五NMOS管的漏极与所述第一PMOS管的栅极、所述第一NMOS管的栅极、所述第四PMOS管的栅极、所述第四NMOS管的栅极、所述第二PMOS管的漏极以及所述第二NMOS管的漏极连接,所述第一PMOS管的漏极和所述第一NMOS管的漏极与所述第二NMOS管的栅极、所述第二PMOS管的栅极、所述第三NMOS管的栅极、所述第三PMOS管的栅极以及所述第六NMOS管的漏极连接,所述第一NMOS管的源极与所述第三PMOS管的漏极以及所述第五PMOS管的漏极连接;
所述第三PMOS管的源极、所述第四PMOS管的源极、所述第五PMOS管的源极以及所述第六PMOS管的源极与地电压连接,所述第四NMOS管的漏极与所述第二PMOS管的源极连接,所述第二NMOS管的源极与所述第四PMOS管的漏极以及所述第六PMOS管的漏极连接;
所述第五NMOS管的栅极和所述第六NMOS管的栅极与字线连接,所述第五NMOS管的源极与位线连接,所述第六NMOS管的源极与位线非连接,所述第五PMOS管的栅极和所述第六PMOS管的栅极用作使能端。
4.如权利要求3所述的SRAM存储单元电路,其特征在于,所述第一PMOS管、所述第二PMOS管、所述第三PMOS管、所述第四PMOS管、所述第五PMOS管以及所述第六PMOS管的体端均与所述电源电压相连,所述第一NMOS管、所述第二NMOS管、所述第三NMOS管、所述第四NMOS管、所述第五NMOS管以及所述第六NMOS管的体端均与地电压连接。
5.如权利要求3所述的SRAM存储单元电路,其特征在于,所述SRAM存储单元电路在保持数据期间时:所述使能端为高电平,所述使能端的电压值高于所述电源电压;
所述SRAM存储单元电路在数据读写期间时:所述使能端为低电平,所述使能端的电压值低于地电压。
6.如权利要求1所述的SRAM存储单元电路,其特征在于,还包括:
第五NMOS管和第五PMOS管构成的第一旁路;
第六NMOS管和第六PMOS管构成的第二旁路;
所述第一旁路与所述第一反相器连接,所述第二旁路与所述第二反相器连接。
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